SN74ABT125Q-Q1
- Qualified for Automotive Applications
- Typical VOLP (Output Ground Bounce)
<1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C - High-Drive Outputs
(–16-mA IOH, 32-mA IOL) - Ioff and Power-Up 3-State Support Hot Insertion
- Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
The SN74ABT125Q-Q1 quadruple bus buffer gate features independent line drivers with 3-state outputs. Each output is disabled when the associated output-enable (OE) input is high.
This device is fully specified for hot-insertion applications using Ioff and power-up 3-state. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down. The power-up 3-state circuitry places the outputs in the high-impedance state during power up and power down, which prevents driver conflict.
To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
관심 가지실만한 유사 제품
비교 대상 장치보다 업그레이드된 기능을 지원하는 드롭인 대체품
비교 대상 장치와 유사한 기능
기술 자료
설계 및 개발
추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.
14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
---|---|---|
SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치