SN74AHCT1G00-Q1
- AEC-Q100 qualified for automotive applications:
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Device temperature grade 1: -40°C to +125°C
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Device HBM ESD classification level 2
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Device CDM ESD classification level C4B
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- Operating range of 4.5V to 5.5V
- Low power consumption, 10µA maximum ICC
- ±8mA output drive at 5V
- Inputs are TTL-voltage compatible
- Latch-up performance exceeds 250mAper JESD 17
The SN74AHCT1G00-Q1 is a 2-input NAND Gate. Each gate performs the Boolean function Y = A × B in positive logic.
기술 자료
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19개 모두 보기 설계 및 개발
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평가 보드
14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.
평가 보드
14-24-NL-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 비 리드 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-NL-LOGIC-EVM은 14핀~24핀 BQA, BQB, RGY, RSV, RJW 또는 RHL 패키지가 있는 로직 또는 변환 디바이스를 지원하도록 설계된 유연한 평가 모듈(EVM)입니다.
패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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SOT-23 (DBV) | 5 | Ultra Librarian |
SOT-SC70 (DCK) | 5 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치