데이터 시트
SN74LS05
- Package Options Include Plastic Small-Outline (D, NS), Shrink Small-Outline (DB), and Ceramic Flat (W) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic (N) and Ceramic (J) DIPs
- Dependable Texas Instruments Quality and Reliability
The SN5405 is obsolete and no longer is supplied.
These devices contain six independent inverters. To perform correctly, the open-collector outputs require pullup resistors. These devices may be connected to other open-collector outputs to implement active-low wired-OR or active-high wire-AND functions. Open-collector devices often are used to generate high VOH levels.
기술 자료
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10개 모두 보기 | 유형 | 직함 | 날짜 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | SN54LS05, SN54S05, SN7405, SN74LS05, SN74S05 datasheet (Rev. A) | 2003/11/03 | |
| Selection guide | Logic Guide (Rev. AB) | 2017/06/12 | ||
| Application note | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015/12/02 | ||
| User guide | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007/01/16 | ||
| Application note | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004/07/08 | ||
| Application note | TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes | 2002/08/29 | ||
| Application note | Designing With Logic (Rev. C) | 1997/06/01 | ||
| Application note | Designing with the SN54/74LS123 (Rev. A) | 1997/03/01 | ||
| Application note | Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits | 1996/10/01 | ||
| Application note | Live Insertion | 1996/10/01 |
설계 및 개발
추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.
평가 보드
14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈
14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| PDIP (N) | 14 | Ultra Librarian |
| SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
| SOP (NS) | 14 | Ultra Librarian |
| SSOP (DB) | 14 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치