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SN74LV4T00-Q1

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오토모티브 1.8V~5.5V 단일 전원 공급 장치 4중 NAND 게이트

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SN74LV4T00-Q1

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제품 상세 정보

Technology family LVxT Number of channels 4 Vout (min) (V) 1.65 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 15 IOH (max) (mA) -8 IOL (max) (mA) 8 Features Over-voltage tolerant inputs, Single supply, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type Balanced CMOS, Push-Pull Operating temperature range (°C) -40 to 125
Technology family LVxT Number of channels 4 Vout (min) (V) 1.65 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 15 IOH (max) (mA) -8 IOL (max) (mA) 8 Features Over-voltage tolerant inputs, Single supply, Voltage translation Input type TTL-Compatible CMOS Output type Balanced CMOS, Push-Pull Operating temperature range (°C) -40 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4 WQFN (BQA) 14 7.5 mm² 3 x 2.5
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Available in wettable flank QFN (WBQA) package

  • Wide operating range of 1.8 V to 5.5 V

  • Single-supply voltage translator (refer to LVxT Enhanced Input Voltage):

    • Up translation:

      • 1.2 V to 1.8 V

      • 1.5 V to 2.5 V

      • 1.8 V to 3.3 V

      • 3.3 V to 5.0 V

    • Down translation:

      • 5.0 V, 3.3 V, 2.5 V to 1.8 V
      • 5.0 V, 3.3 V to 2.5 V
      • 5.0 V to 3.3 V
  • 5.5-V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150 Mbps with 5-V or 3.3-V V CC
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:

    • Device temperature grade 1: -40°C to +125°C

    • Device HBM ESD classification level 2

    • Device CDM ESD classification level C4B

  • Available in wettable flank QFN (WBQA) package

  • Wide operating range of 1.8 V to 5.5 V

  • Single-supply voltage translator (refer to LVxT Enhanced Input Voltage):

    • Up translation:

      • 1.2 V to 1.8 V

      • 1.5 V to 2.5 V

      • 1.8 V to 3.3 V

      • 3.3 V to 5.0 V

    • Down translation:

      • 5.0 V, 3.3 V, 2.5 V to 1.8 V
      • 5.0 V, 3.3 V to 2.5 V
      • 5.0 V to 3.3 V
  • 5.5-V tolerant input pins
  • Supports standard pinouts
  • Up to 150 Mbps with 5-V or 3.3-V V CC
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

The SN74LV4T00-Q1 contains four independent 2-input NAND Gates with Schmitt-trigger inputs. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B in positive logic. The output level is referenced to the supply voltage (V CC) and supports 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2 V input to 1.8 V output or 1.8 V input to 3.3 V output). In addition, the 5-V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3 V to 2.5 V output).

The SN74LV4T00-Q1 contains four independent 2-input NAND Gates with Schmitt-trigger inputs. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B in positive logic. The output level is referenced to the supply voltage (V CC) and supports 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V CMOS levels.

The input is designed with a lower threshold circuit to support up translation for lower voltage CMOS inputs (for example, 1.2 V input to 1.8 V output or 1.8 V input to 3.3 V output). In addition, the 5-V tolerant input pins enable down translation (for example, 3.3 V to 2.5 V output).
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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet SN74LV4T00-Q1 Automotive Quadruple 2-Input Positive-NAND GatesWith Integrated Translation datasheet PDF | HTML 2023/04/24

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

14-24-LOGIC-EVM — 14핀~24핀 D, DB, DGV, DW, DYY, NS 및 PW 패키지용 로직 제품 일반 평가 모듈

14-24-LOGIC-EVM 평가 모듈(EVM)은 14핀~24핀 D, DW, DB, NS, PW, DYY 또는 DGV 패키지에 있는 모든 로직 장치를 지원하도록 설계되었습니다.

사용 설명서: PDF | HTML
TI.com에서 구매 불가
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
WQFN (BQA) 14 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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