TLC69650
- Operating voltage VCC range: 3V to 5.5V
- Flexible P-MOSFET driving options:
- Maximum driving current / sustaining voltage:
- 30mA / 20V: TLC69600
- 60mA / 20V: TLC69610
- 30mA / 50V: TLC69650
- 60mA / 50V: TLC69660
- Global 8-bit Maximum Current (MC) setting
- Individual 8-bit Channel Current (CC) setting
- Maximum driving current / sustaining voltage:
- High speed daisy chain interface:
- I/O voltage compatible with: 1.8V / 3.3V
- Data transfer rate: up to 20MHz
- EMI enhancement:
- Programmable interface driving capability
- Display quality improvement:
- Minimum brightness update latency
- Programmable black insertion
- Variable refresh rate (VRR) without flickering
- Diagnostics:
- Device thermal shutdown detection
- Report interface option:
- UART and interrupt pin (INT)
- Two-wire output: CLK_O and SOUT
TLC696x0 is a scan MOSFET controller compatible with current-sink driver TLC696x2/4/8 to achieve 2/4/8 time-multiplexing control. Each device integrates with 16 constant current sinks for up to 8 scan MOSFETs control. The device equips with ghost-cancellation function to eliminate upside ghosting.
To optimize system efficiency, the device equips with adaptive headroom voltage control scheme to directly control DC/DC. Only the FB pin from last device in serial chain should be connected to DC/DC to acheive simplified system layout. The device also integrates minimum brightness update latency, black insertion and VRR features to improve display quality.
TLC696x0 has three error flags: LED open detection (LOD), LED short detection (LSD) and thermal shutdown detection (TSD) for diagnostic. The device implements two options for readback including UART/INT and SOUT/CLK_O which is programmable by register.
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기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | TLC696x0 Scan MOSFET Controller for TLC696x2/4/8 datasheet | PDF | HTML | 2023/04/04 |
설계 및 개발
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패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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DSBGA (YBH) | 24 | Ultra Librarian |
WQFN (RTW) | 24 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치