TPS7H2201-SEP
- Standard micro circuit available, SMD 5962R17220
- Vendor item drawing available, VID V62/23608
- Radiation performance:
- Radiation hardness assurance (RHA) up to TID 100krad(Si)
- Single event latchup (SEL), single event burnout (SEB), and single event gate rupture (SEGR) immune to LET = 75MeV-cm2/mg
- SEFI/SET characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
- Integrated single channel eFuse
- Input voltage range: 1.5V to 7V
- Low on-resistance (RON) of:
- 35mΩ maximum at 25°C and VIN = 5V for CFP and KGD
- 23mΩ maximum at 25°C and VIN = 5V for HTSSOP
- 6A maximum continuous switch current
- Low control input threshold enables use of 1.2, 1.8, 2.5, and 3.3V logic
- Configurable rise time (soft start)
- Reverse current protection
- Programmable and internal current limiting (fast-trip)
- Programmable fault timer (current limit and retry modes)
- Thermal shutdown
- Ceramic and plastic package with thermal pad
The TPS7H2201 is a single channel eFuse that provides configurable rise time to minimize inrush current and reverse current protection. The device contains a P-channel MOSFET that can operate over an input voltage range of 1.5V to 7V and can support a maximum continuous current of 6A. The switch is controlled by an on and off input (EN), which is capable of interfacing directly with low-voltage control signals.
The TPS7H2201 is available in a ceramic and plastic package with integrated thermal pad allowing for high power dissipation. The device is characterized for operation over the free-air temperature range of –55°C to 125°C.
技術文件
| 重要文件 | 類型 | 標題 | 格式選項 | 日期 |
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | TPS7H2201-SP and TPS7H2201-SEP Radiation Hardened 1.5V to 7V, 6A eFuse datasheet (Rev. G) | 2025年 12月 2日 | |
| * | VID | TPS7H2201-SEP VID V62-23608 | 2024年 5月 1日 | |
| * | Radiation & reliability report | TPS7H2201-SEP Production Flow and Reliability Report | PDF | HTML | 2023年 9月 29日 |
| * | Radiation & reliability report | TPS7H2201-SEP TID Radiation Report (Rev. A) | PDF | HTML | 2023年 9月 18日 |
| * | Radiation & reliability report | TPS7H2201-SEP Neutron Displacement (NDD) Characterization Report | PDF | HTML | 2023年 8月 29日 |
| * | Radiation & reliability report | Single Event Effects Report of the TPS7H2201-SEP eFuse and Load Switch | PDF | HTML | 2023年 8月 24日 |
| Selection guide | TI Space Products (Rev. K) | 2025年 4月 4日 | ||
| Certificate | TPS7H2201EVM EU Declaration of Conformity (DoC) | 2023年 6月 19日 | ||
| Application note | Reduce the Risk in Low-Earth Orbit Missions with Space Enhanced Plastic Products (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 9月 15日 | |
| E-book | Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) | 2019年 5月 21日 |
設計與開發
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