TPD1S514-1EVM
TPD1S514-1EVM：USB チャージャ、過電圧、サージ、および ESD 保護、VBUS_CON Pin 用
TPD1S514-1EVM
概要
Texas Instrument’s TPD1S514 evaluation module helps designers evaluate the operation and performance of the TPD1S514 device. The TPD1S514 is a single-chip solution for USB connector’s VBUS line protection. The bi-directional nFET switch ensures safe current flow in both charging and host mode while protecting the internal system circuits from any over-voltage conditions at the VBUS_CON pin. On the VBUS_CON pin, this device can handle over-voltage protection up to 30V. After the EN pin toggles low, the TPD1S514 waits 21 ms before turning ON the nFET through a startup delay. VBUS_POWER pin indicates the nFET is completely turned ON.
特長
- Includes 2 TPD1S514’s for evaluation
- Includes a USB 2.0 throughput channel
- Includes Kelvin connections for accurate measurements across the device FET
USB ポート保護 IC
購入と開発の開始
評価ボード
TPD1S514-1EVM — TPD1S514-1EVM：USB チャージャ、過電圧、サージ、および ESD 保護、VBUS_CON Pin 用
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技術資料
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| 種類 | タイトル | 英語版のダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| データシート | TPD1S514x VBUS ピン用の過電圧、サージ、ESD 保護機能搭載 USB チャージャ・ファミリ データシート (Rev. F 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.F) | PDF | HTML | 2019年 8月 26日 | |
| 証明書 | TPD1S514-1EVM EU Declaration of Conformity (DoC) | 2019年 1月 2日 | ||||
| EVM ユーザー ガイド (英語) | TPD1S514EVM (Rev. A) | 2014年 5月 7日 |