TI は、このハードウェアに対する直接的な設計サポートを提供していません。設計に関するサポートを希望する場合、次の場所にお問い合わせください。 Optecks, LLC.
OPTECKS-3P-TNIR
概要
DLP NIRscan Nano は、近赤外線 (NIR) スペクトルを使用してサンプルの分光器測定を実施する目的で設計した送信用 EVM です。この高性能送信用モジュールを使用する場合、光源と NIRscan Nano の入力の間にサンプルを配置し、サンプル経由で送信を行う方法で分光器測定を実施できるようにします。この光学設計を通じて、送信用光学電力と分光器の間の結合を最大化しています。その結果、達成可能な感度が上昇し、測定精度が向上します
分光器と光学ネットワーク製品
関連する設計リソース
ハードウェア開発
評価ボード
サポートとトレーニング
ビデオ・シリーズ
ビデオをすべて表示ビデオ
免責事項
(TI 以外のサイトへのリンクを含め) 上記の特定の情報とリソースは、サード・パーティーのパートナーから提供されていることがあり、利用者の便宜を図る目的で掲載しています。TI は、かかる情報や資料の提供者ではなく、それらの内容に責任を負うこともありません。利用者は、意図している用途との適合性について、かかる情報や資料を自分自身で注意深く評価するものとします。かかる資料やリソースのここへの掲載は、TI による任意のサード・パーティー企業の承認を暗黙的に意味するものではなく、単独、もしくは TI のいかなる製品やサービスとの組み合わせにおいて、サード・パーティーの製品またはサービスの適合性に関する保証または表明として解釈してはならないものとします。