JAJSK01E april   2011  – december 2020 TLV803 , TLV853

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 Revision History
  6. 5 Device Comparison
  7. 6 Pin Configuration and Functions
    1.     Pin Functions
  8. 7 Specifications
    1. 7.1 Absolute Maximum Ratings #GUID-24157BEB-92B8-46F1-A3B7-B7A06F8BDB0C/SLVSA033153
    2. 7.2 ESD Ratings
    3. 7.3 Thermal Information
    4. 7.4 Recommended Operating Conditions
    5. 7.5 Electrical Characteristics
    6. 7.6 Switching Characteristics
    7. 7.7 Typical Characteristics
  9. 8 Detailed Description
    1. 8.1 Overview
    2. 8.2 Functional Block Diagram
    3. 8.3 Feature Description
      1. 8.3.1 VDD Transient Rejection
      2. 8.3.2 Reset During Power Up and Power Down
      3. 8.3.3 Bidirectional Reset Pins
    4. 8.4 Device Functional Modes
      1. 8.4.1 Normal Operation (VDD > Power-Up Reset Voltage)
      2. 8.4.2 Power On Reset (VDD < Power-Up Reset Voltage)
  10. 9 Application and Implementation
    1. 9.1 Application Information
      1. 9.1.1 Monitoring Multiple Supplies
      2. 9.1.2 Output Level Shifting
    2. 9.2 Typical Application
      1. 9.2.1 Design Requirements
      2. 9.2.2 Detailed Design Procedure
      3. 9.2.3 Application Curves
  11. 10Power Supply Recommendations
  12. 11Layout
    1. 11.1 Layout Guidelines
    2. 11.2 Layout Example
  13. 12Device and Documentation Support
    1. 12.1 Device Support
      1. 12.1.1 Development Support
        1. 12.1.1.1 Evaluation Modules
        2. 12.1.1.2 Spice Models
    2. 12.2 Documentation Support
      1. 12.2.1 Related Documentation
    3. 12.3 Related Links
    4. 12.4 サポート・リソース
    5. 12.5 Trademarks
    6. 12.6 静電気放電に関する注意事項
    7. 12.7 用語集
  14. 13Mechanical, Packaging, and Orderable Information

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

12.6 静電気放電に関する注意事項

GUID-D6F43A01-4379-4BA1-8019-E75693455CED-low.gif このICは、ESDによって破損する可能性があります。テキサス・インスツルメンツは、ICを取り扱う際には常に適切な注意を払うことを推奨します。正しいESD対策をとらないと、デバイスを破損するおそれがあります。
ESDによる破損は、わずかな性能低下からデバイスの完全な故障まで多岐にわたります。精密なICの場合、パラメータがわずかに変化するだけで公表されている仕様から外れる可能性があるため、破損が発生しやすくなっています。