JAJA674A June   2020  – April 2024 TPS3851-Q1 , TPS7A16A-Q1

 

  1.   1
  2.   概要
  3.   商標
  4. はじめに
  5. 故障のタイプと定量的なランダム ハードウェア故障指標
  6. 製品寿命にわたるランダム故障と BFR の推定
  7. BFR の推定方法
  8. Siemens SN 29500 FIT モデル
  9. IEC TR 62380
  10. BFR 計算の推奨前提条件
  11. 過渡故障に特化した考慮事項
  12. IEC TR 62380 と SN 29500 の間の BFR の差異 (パッケージ起因)
  13. 10BFR に対する電源投入期間の影響
  14. 11TI 製品として期待できるもの
  15. 12まとめ
  16. 13参考資料
  17. 14改訂履歴

BFR 計算の推奨前提条件

  • 1 つの手法のみを選択し、その手法を一貫して使用します。その手法は以下のいずれかです。
    • 経験的手法
    • フィールド データに基づく手法
      • フィールド データから故障率を求めるのに使うモデル (ワイブルまたは指数分布) を明示します。
    • 信頼性ガイドに基づく手法(TI 製品は、信頼性ガイドから導き出された BFR を使用しています。)
  • 使用プロファイルを仮定します。以下に 2 つの例を示します。
    • 産業用:定期的な予防保守サイクルまで年中無休で常時稼働
    • 車載用モーター制御:IEC TR 62380 で規定されているように、1 日あたり 2 または 4 回起動、1 日あたり約 4 時間使用
  • 推定で使用する基礎的な統計の信頼区間 (75%、80%、90%) を選択 (および明示) します。
  • BFR の推定に取り込まれたすべての倍率または低減係数を明確に記録します。
  • 非動作時間とはんだ接合に基づく故障を考慮に入れます。

すべての半導体サプライヤが同じ BFR 推定の前提条件を使用している限り、または少なくともその前提条件を明示している限り、2 つの異なるメーカーの同等な半導体部品の BFR を比較することができます。