IEC (国際電気標準会議) 61508(1)、ISO (国際標準化機構) 26262(2) などの機能安全規格は、半導体デバイス メーカーが決定論的原因によるハードウェア故障とランダムな原因によるハードウェア故障の両方に対処することを求めています。以下の厳格な開発プロセスにより、決定論的原因故障の管理と軽減が可能になります。ハードウェア安全インテグリティ レベル (SIL) や車載 SIL (ASIL) への適合のために、ランダム ハードウェア故障は規定の定量的指標を遵守する必要があります。そのため、決定論的原因故障はランダム ハードウェア故障指標の計算から除外されます。