4 BFR の推定方法

BFR の推定にはさまざまな手法があります。たとえば、実験に基づいた手法、インシデントおよび顧客返品 / フィールド故障の現場観測から求める方法、業界で認められた信頼性ガイドと何らかの技術的判断に基づく推定があります。

実験に基づく手法の例を以下に示します。これらは内因性 (シリコン) の故障のみを考慮しており、シリコンとパッケージの相互作用の寄与を無視しています。

• 温度バイアス動作寿命試験
• 高温動作寿命試験
• 長期寿命信頼性試験

一方、現場での観測には、正確で広範な記録管理が必要ですが、新製品を市場に投入する時点では、それは不可能です。また、多くの半導体メーカーは顧客返品のすべてを入手しているわけではないため、BFR を推定するための正確かつ広範な記録の要件を満たすのは不可能です。

業界で認められた以下の信頼性ガイドを使うと、機能安全分析のための推定が可能です。

• IEC 技術報告書 (TR) 62380⁽³⁾ および IEC 61709⁽⁵⁾
• SN 29500 (電子および電気機械部品の信頼性予測のための Siemens 社規格)
• 軍のハンドブックまたはその他の信頼できる情報源の文書などの FIDES

本ホワイト ペーパーの残りの部分では、IEC TR 62380 と SN 29500 を使って BFR を見積る方法を中心に説明します。