8 過渡故障に特化した考慮事項

ランダム ハードウェア故障を引き起こす可能性がある放射線イベント (内部または外部) によるソフト エラーは、BFR 推定で考慮する必要があります。しかし、電磁干渉またはクロストークに起因するソフト エラーは決定論的原因故障として分類されるため、BFR 計算に含めることはできません。これは、良好な設計慣行を順守することで管理できます。以下のような属性を使用して、過渡的な故障を調節できます。

• 使用テクノロジー
• 故障の影響、該当する場合
• パッケージのモールド コンパウンドのタイプ (標準、低アルファ、超低アルファ)

AVF (Architectural Vulnerability Factor：構造的ぜい弱性係数) は、ソフト エラーによる設計構造の故障がその機能の最終出力に目に見えるエラーをもたらす確率です。ISO 26262 によれば、AVF または安全機構 (EDAC (Error Detection And Correction：エラー検出および訂正) 回路など) に基づいて、ソフト エラーの BFR を低減することはできません。そのため、半導体部品内のランダム アクセス メモリとロジック ブロックに対して個別にソフト エラーの BFR に計算することが最適です。