概要

この資料では、プリント基板 (PCB) の入力パターンまたはケーブルの設計が、テキサス・インスツルメンツの DC/DC コンバータ内蔵 AMC3301 高精度絶縁型アンプの放射エミッションの電磁干渉 (EMI) 性能にどのような影響を及ぼすかを示します。表 6-1 に示す AMC3301 ファミリは、それ自体では過剰な放射エミッションを生成せず、デバイスに接続されている入力パターンの長さが短い場合、図 2-2 に示すように、追加部品なしで CISPR 11 Class B に合格することができます。より放射エミッションの減衰を必要とする設計に対しては、フェライト ビーズとコモン モード チョークの選択と配置に関する推奨事項が提供されています。

いくつかの産業用および車載用アプリケーションでは、機能を実行する高電圧回路からデジタル回路を保護するために、何らかの種類の絶縁を必要とします。テキサス・インスツルメンツは、SiO₂ 絶縁バリアを採用した絶縁型アンプとコンバータの幅広い製品ラインアップを提供しており、絶縁型データ変換に関するお客様のニーズへの対応をお手伝いします。テキサス・インスツルメンツの SiO₂ 絶縁バリアは、多くの場合 100 年以上にわたり動作し、非常に優れた信頼性を実現します。テキサス・インスツルメンツの SiO₂ 絶縁バリアの詳細については、絶縁のリンクをご覧ください。これらのアプリケーションでは、EMI テストが一般的に行われ、システム内の他のコンポーネントや回路に悪影響を及ぼす可能性のある、定められたレベルを超える放射エミッションがシステムから発生しないことを検証します。EMI の詳細な説明については、このアプリケーション ノートを参照してください。許容される放射の大きさと放射エミッションの試験手順は、国際無線障害特別委員会 (CISPR) によって定められています。産業用アプリケーションは CISPR 11 規格に従って測定を行い、車載アプリケーションは CISPR 25 規格に従って測定を行います。CISPR 規格と、全周波数帯域でのそれぞれの大きさの詳細については、このアプリケーション ノートをご覧ください。