JAJSCZ6G March   2017  – August 2021 ISOW7840 , ISOW7841 , ISOW7842 , ISOW7843 , ISOW7844

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特長
  2. 2 アプリケーション
  3. 3 概要
  4. 4 改訂履歴
  5. 5 概要 (続き)
  6. 6 ピン構成および機能
    1.     端子機能
  7. 7 仕様
    1. 7.1  絶対最大定格
    2. 7.2  ESD 定格
    3. 7.3  推奨動作条件
    4. 7.4  熱に関する情報
    5. 7.5  電力定格
    6. 7.6  絶縁仕様
    7. 7.7  安全関連認証
    8. 7.8  安全限界値
    9. 7.9  電気的特性ー 5V 入力、5V 出力
    10. 7.10 電源電流特性— 5V 入力、5V 出力
    11. 7.11 電気的特性ー 3.3V 入力、5V 出力
    12. 7.12 電源電流特性— 3.3V 入力、5V 出力
    13. 7.13 電気的特性ー 5V 入力、3.3V 出力
    14. 7.14 電源電流特性— 5V 入力、3.3V 出力
    15. 7.15 電気的特性ー 3.3V 入力、3.3V 出力
    16. 7.16 電源電流特性ー 3.3V 入力、3.3V 出力
    17. 7.17 スイッチング特性 - 5V 入力、5V 出力
    18. 7.18 スイッチング特性 - 3.3V 入力、5V 出力
    19. 7.19 スイッチング特性 - 5V 入力、3.3V 出力
    20. 7.20 スイッチング特性 - 3.3V 入力、3.3V 出力
    21. 7.21 絶縁特性曲線
    22. 7.22 代表的特性
  8. 8 パラメータ測定情報
  9. 9 詳細説明
    1. 9.1 概要
    2. 9.2 機能ブロック図
    3. 9.3 機能説明
      1. 9.3.1 電磁両立性 (EMC) に関する検討事項
      2. 9.3.2 パワーアップ動作とパワーダウン動作
      3. 9.3.3 過電流制限、過熱保護
    4. 9.4 デバイスの機能モード
      1. 9.4.1 デバイス I/O 回路図
  10. 10アプリケーションと実装
    1. 10.1 アプリケーション情報
    2. 10.2 代表的なアプリケーション
      1. 10.2.1 設計要件
      2. 10.2.2 詳細な設計手順
      3. 10.2.3 アプリケーション曲線
        1. 10.2.3.1 絶縁寿命
  11. 11電源に関する推奨事項
  12. 12レイアウト
    1. 12.1 レイアウトのガイドライン
      1. 12.1.1 PCB 材料
    2. 12.2 レイアウト例
  13. 13デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 13.1 デバイスのサポート
      1. 13.1.1 開発サポート
    2. 13.2 ドキュメントのサポート
      1. 13.2.1 関連資料
    3. 13.3 関連リンク
    4. 13.4 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    5. 13.5 サポート・リソース
    6. 13.6 商標
    7. 13.7 Electrostatic Discharge Caution
    8. 13.8 Glossary
  14. 14メカニカル、パッケージ、および注文情報

10.2.3.1 絶縁寿命

絶縁寿命予測データは、業界標準の TDDB (Time Dependent Dielectric Breakdown、経時絶縁破壊) テスト手法を使用して収集されます。このテストでは、バリアのそれぞれの側にあるすべてのピンを互いに接続して 2 つの端子を持つデバイスを構成し、その両側に高電圧を印加します。TDDB テスト構成については、図 10-4 を参照してください。この絶縁破壊データは、動作温度範囲で、さまざまな電圧について 60Hz でスイッチングして収集されます。強化絶縁について、VDE 規格では、100 万分の 1 (ppm) 未満の故障率での TDDB (経時絶縁破壊) 予測曲線の使用が求められています。期待される最小絶縁寿命は、規定の動作絶縁電圧において 20 年ですが、 VDE の強化絶縁認証には、動作電圧について 20%、寿命について 87.5% の安全マージンがさらに必要となります。すなわち、規定値よりも 20% 高い動作電圧で、37.5 年の最小絶縁寿命が必要であることになります。

図 10-5 に、寿命全体にわたって高電圧ストレスに耐えることができる、絶縁バリアの固有能力を示します。この TDDB データによれば、絶縁バリアの固有能力は 1000VRMS、寿命は 1184 年です。

GUID-10B70A5D-5BD1-41CE-BC33-46C923D478D2-low.gif図 10-4 絶縁寿命測定用のテスト構成
GUID-32A7E2BF-4A60-4CBC-A7C1-FFDA506748E1-low.png図 10-5 絶縁寿命予測データ