KOKA047A December   2023  – January 2024 AM2631 , AM2631-Q1 , AM2632 , AM2632-Q1 , AM2634 , AM2634-Q1 , AM263P2 , AM263P4 , AM263P4-Q1 , AMC1303M2520 , AMC1305L25 , AMC1306M25 , TMS320F280033 , TMS320F280034 , TMS320F280034-Q1 , TMS320F280036-Q1 , TMS320F280036C-Q1 , TMS320F280037 , TMS320F280037-Q1 , TMS320F280037C , TMS320F280037C-Q1 , TMS320F280038-Q1 , TMS320F280038C-Q1 , TMS320F280039 , TMS320F280039-Q1 , TMS320F280039C , TMS320F280039C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S , TMS320F28384D , TMS320F28384D-Q1 , TMS320F28384S , TMS320F28384S-Q1 , TMS320F28386D , TMS320F28386D-Q1 , TMS320F28386S , TMS320F28386S-Q1 , TMS320F28388D , TMS320F28388S , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1

 

  1.   1
  2.   요약
  3.   상표
  4. 1머리말
  5. 2디지털 인터페이스 타이밍 사양의 설계 과제
  6. 3클록 에지 지연 보상을 사용한 디자인 접근 방식
    1. 3.1 소프트웨어 구성 가능 위상 지연을 사용한 클록 신호 보상
    2. 3.2 하드웨어 구성 가능 위상 지연을 사용한 클록 신호 보상
    3. 3.3 클록 반환을 통한 클록 신호 보상
    4. 3.4 MCU에서 클록 반전에 의한 클록 신호 보상
  7. 4테스트 및 검증
    1. 4.1 테스트 장비 및 소프트웨어
    2. 4.2 소프트웨어 구성 가능 위상 지연을 사용한 클록 신호 보상 테스트
      1. 4.2.1 테스트 설정
      2. 4.2.2 테스트 측정 결과
    3. 4.3 MCU에서 클록 반전에 의한 클록 신호 보상 테스트
      1. 4.3.1 테스트 설정
      2. 4.3.2 테스트 측정 결과
        1. 4.3.2.1 테스트 결과 – GPIO123에서 클럭 입력의 클럭 반전 없음
        2. 4.3.2.2 테스트 결과 – GPIO123에서 클록 입력의 클록 반전
    4. 4.4 계산 툴을 사용한 디지털 인터페이스 타이밍 검증
      1. 4.4.1 보상 방법 없는 디지털 인터페이스
      2. 4.4.2 일반적으로 사용되는 방법 - 클록 주파수 줄이기
      3. 4.4.3 소프트웨어 구성 가능 위상 지연을 사용한 클록 에지 보상
  8. 5결론
  9. 6참고 자료
  10. 7Revision History

4.1 테스트 장비 및 소프트웨어

측정을 위한 주요 테스트 장비가 표 4-1에 나와 있습니다.

표 4-1 테스트 장비 목록
설명 부품 번호
AMC1306 강화 절연 모듈레이터 평가 모듈 AMC1306EVM
Delfino C2000™ Delfino™ MCU용 F28379D LaunchPad™ 개발 키트 LAUNCHXL-F28379D
Arm® 기반 MCU를 위한 AM243x 범용 LaunchPad™ 개발 키트 LP-AM243
고속 오실로스코프 Tektronix MSO 4104
단일 종단 프로브 Tektronix P6139A

소프트웨어 개발 및 디버깅은 CCS(Code Composer StudioTM) 버전 12.4.0을 사용하여 수행됩니다. CCS는 텍사스 인스트루먼트의 MCU(마이크로컨트롤러)와 임베디드 프로세서 포트폴리오를 지원하는 IDE(통합 개발 환경)입니다. 내부 TI 테스트 소프트웨어는 C2000WARE - C2000 마이크로컨트롤러용 C2000Ware를 기반으로 TMS320F28379D에 사용되었습니다. Sitara AM243x Launchpad의 경우 Sitara™ 마이크로컨트롤러 MCU-PLUS-SDK-AM243X 버전 09.00.00.35용 AM243x SDK(소프트웨어 개발 키트)를 기반으로 내부 TI 테스트 소프트웨어가 사용되었습니다. C2000 및 Sitara의 특정 구현 및 소프트웨어 지원은 TI E2E 지원 포럼을 참조하십시오.