KOKA047A December   2023  – January 2024 AM2631 , AM2631-Q1 , AM2632 , AM2632-Q1 , AM2634 , AM2634-Q1 , AM263P4 , AM263P4-Q1 , AMC1303M2520 , AMC1305L25 , AMC1306M25 , TMS320F280033 , TMS320F280034 , TMS320F280034-Q1 , TMS320F280036-Q1 , TMS320F280036C-Q1 , TMS320F280037 , TMS320F280037-Q1 , TMS320F280037C , TMS320F280037C-Q1 , TMS320F280038-Q1 , TMS320F280038C-Q1 , TMS320F280039 , TMS320F280039-Q1 , TMS320F280039C , TMS320F280039C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S , TMS320F28384D , TMS320F28384D-Q1 , TMS320F28384S , TMS320F28384S-Q1 , TMS320F28386D , TMS320F28386D-Q1 , TMS320F28386S , TMS320F28386S-Q1 , TMS320F28388D , TMS320F28388S , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1

 

  1.   1
  2.   요약
  3.   상표
  4. 1머리말
  5. 2디지털 인터페이스 타이밍 사양의 설계 과제
  6. 3클록 에지 지연 보상을 사용한 디자인 접근 방식
    1. 3.1 소프트웨어 구성 가능 위상 지연을 사용한 클록 신호 보상
    2. 3.2 하드웨어 구성 가능 위상 지연을 사용한 클록 신호 보상
    3. 3.3 클록 반환을 통한 클록 신호 보상
    4. 3.4 MCU에서 클록 반전에 의한 클록 신호 보상
  7. 4테스트 및 검증
    1. 4.1 테스트 장비 및 소프트웨어
    2. 4.2 소프트웨어 구성 가능 위상 지연을 사용한 클록 신호 보상 테스트
      1. 4.2.1 테스트 설정
      2. 4.2.2 테스트 측정 결과
    3. 4.3 MCU에서 클록 반전에 의한 클록 신호 보상 테스트
      1. 4.3.1 테스트 설정
      2. 4.3.2 테스트 측정 결과
        1. 4.3.2.1 테스트 결과 – GPIO123에서 클럭 입력의 클럭 반전 없음
        2. 4.3.2.2 테스트 결과 – GPIO123에서 클록 입력의 클록 반전
    4. 4.4 계산 툴을 사용한 디지털 인터페이스 타이밍 검증
      1. 4.4.1 보상 방법 없는 디지털 인터페이스
      2. 4.4.2 일반적으로 사용되는 방법 - 클록 주파수 줄이기
      3. 4.4.3 소프트웨어 구성 가능 위상 지연을 사용한 클록 에지 보상
  8. 5결론
  9. 6참고 자료
  10. 7Revision History

4.3.1 테스트 설정

C2000 TMS320F28379D Launchpad를 사용하여 MCU에서 클록 반전을 통한 클록 신호 보상 테스트 설정은 그림 4-5에 나와 있습니다. 이 측정의 경우 MCU에서 2개의 테스트 신호를 생성합니다. 하나의 신호는 MCU SDFM의 클록 입력 SD1_C1(GPIO123)에 연결되고, 다른 신호는 SDFM의 데이터 입력 SD1_D1 (GPIO122)에 연결됩니다.

디지털 인터페이스 타이밍 검증의 테스트 설정그림 4-5 디지털 인터페이스 타이밍 검증의 테스트 설정