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SN74LVC165A

ACTIVO

Registros de desplazamiento de 8 bits, carga paralela y 1.1 V a 3.6 V

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SN74LVC165A

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Detalles del producto

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.1 Supply voltage (max) (V) 3.6 Input type CMOS Output type Push-Pull IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.1 Supply voltage (max) (V) 3.6 Input type CMOS Output type Push-Pull IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4 WQFN (BQB) 16 8.75 mm² 3.5 x 2.5
  • Operating range from 1.1V to 3.6V
  • Over-voltage tolerant inputs support up to 5.5V independent of VCC
  • Supports partial-power-down with back drive protection (Ioff)

  • High push-pull output drive strength:

    • ±24mA at 3.3V
    • ±8mA at 2.3V
    • ±4mA at 1.65V
  • Maximum propagation delay of 20ns at 3.3V
  • Latch-up performance exceeds 100mAper JESD78
  • Operating range from 1.1V to 3.6V
  • Over-voltage tolerant inputs support up to 5.5V independent of VCC
  • Supports partial-power-down with back drive protection (Ioff)

  • High push-pull output drive strength:

    • ±24mA at 3.3V
    • ±8mA at 2.3V
    • ±4mA at 1.65V
  • Maximum propagation delay of 20ns at 3.3V
  • Latch-up performance exceeds 100mAper JESD78

The SN74LVC165A contains one 8-bit parallel-load shift register. Data is loaded asynchronously using the shift or load (SH/LD) select pin. The device includes a serial (SER) input to allow for daisy chaining, and a standard (QH) and inverted (QH) output.

The SN74LVC165A contains one 8-bit parallel-load shift register. Data is loaded asynchronously using the shift or load (SH/LD) select pin. The device includes a serial (SER) input to allow for daisy chaining, and a standard (QH) and inverted (QH) output.
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
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Application note CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 01 jun 1997
Application note LVC Characterization Information 01 dic 1996
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 01 oct 1996
Application note Live Insertion 01 oct 1996
Design guide Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 01 sep 1996
Application note Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 01 may 1996

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación 14-24-LOGIC-EVM (EVM) está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que esté en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Placa de evaluación

14-24-NL-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados sin conductores de 14 a 24 pine

14-24-NL-LOGIC-EVM es un módulo de evaluación (EVM) flexible diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico o de traducción que tenga un encapsulado BQA, BQB, RGY, RSV, RJW o RHL de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
No disponible en TI.com
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian
WQFN (BQB) 16 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Soporte y capacitación

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