THS4513-SP
- Fully Differential Architecture
- Centered Input Common-Mode Range
- Minimum Gain of 2V/V (6 dB)
- Bandwidth: 1100 MHz (Gain = 6 dB)
- Slew Rate: 5100 V/µs
- 1% Settling Time: 5.5 ns
- HD2: -76 dBc at 70 MHz
- HD3: -88 dBc at 70 MHz
- OIP2: 84 dBm at 70 MHz
- OIP3: 42 dBm at 70 MHz
- Input Voltage Noise: 2.2 nV/
Hz (f >10 MHz)
- Noise Figure: 19.8 dB
- Output Common-Mode Control
- Power Supply:
- Voltage: 3 V (±1.5 V) to 5 V (±2.5 V)
- Current: 37.7 mA
- Power-Down Capability: 0.65 mA
- Rad-Tolerant: 150 kRad (Si) TID
- QML-V Qualified, SMD 5962-07223
- APPLICATIONS
- 5 V Data-Acquisition Systems
- High-Linearity ADC Amplifier
- Wireless Communication
- Medical Imaging
- Test and Measurement
The THS4513 is a wideband, fully differential op amp designed for 3.3 V to 5 V data-acquisition systems. It has very low noise at 2.2 nV/ load. Slew rate is very high at 5100 V/µs and with settling time of 5.5 ns to 1% (2 V step), it is ideal for pulsed applications. It is suitable for minimum gain of 6 dB.
To allow for dc coupling to ADCs, its unique output common-mode control circuit maintains the output common-mode voltage within 5 mV offset (typ) from the set voltage, when set within 0.5 V of mid-supply, with less than 4 mV differential offset voltage. The common-mode set point is set to mid-supply by internal circuitry, which may be over-driven from an external source.
The input and output are optimized for best performance with their common-mode voltages set to mid-supply. Along with high performance at low power supply voltage, this makes for extremely high performance single supply 5 V data acquisition systems.
The THS4513 is offered in a 16-pin ceramic flatpack package (W), and is characterized for operation over the full military temperature range from -55°C to 125°C.
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | THS4513-SP Rad-Tolerant Class V, Wideband, Fully Differential Amplifier データシート (Rev. A) | 2007年 10月 10日 | |||
* | SMD | THS4513-SP SMD 5962-07223 | 2016年 7月 8日 | |||
* | 放射線と信頼性レポート | BiCOM3X PNP Low Dose Rate TID Report | 2015年 6月 2日 | |||
* | 放射線と信頼性レポート | THS4511MW-QMLV and THS4513MW-QMLV Radiation Test Report | 2015年 3月 31日 | |||
アプリケーション概要 | DLA Approved Optimizations for QML Products (Rev. A) | PDF | HTML | 2024年 6月 5日 | |||
セレクション・ガイド | TI Space Products (Rev. J) | 2024年 2月 12日 | ||||
その他の技術資料 | TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. A) | 2023年 8月 31日 | ||||
アプリケーション・ノート | Heavy Ion Orbital Environment Single-Event Effects Estimations (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 11月 17日 | |||
アプリケーション・ノート | Single-Event Effects Confidence Interval Calculations (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 10月 19日 | |||
アプリケーション概要 | Analog Front-End Design With Texas Instruments’ Tooling Landscape | PDF | HTML | 2022年 3月 7日 | |||
e-Book(PDF) | The Signal - オペアンプ設計ブログ集 | 英語版 | 2018年 3月 23日 | |||
アプリケーション・ノート | 高速オペアンプのノイズ解析 (Rev. A 翻訳版) | 英語版 (Rev.A) | 2007年 12月 5日 |
設計および開発
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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CFP (HKT) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点