TPD1E01B04
0402 と 0201 の各パッケージに封止、USB-C とアンテナ向け、0.18pF、±3.6V、±15kV ESD (静電気放電) 保護ダイオード
データシート
TPD1E01B04
- IEC 61000-4-2 Level 4 ESD Protection
- ±15-kV Contact Discharge
- ±17-kV Air Gap Discharge
- IEC 61000-4-4 EFT Protection
- 80 A (5/50 ns)
- IEC 61000-4-5 Surge Protection
- 2.5 A (8/20 µs)
- IO Capacitance:
- 0.18 to 0.20 pF (Typical)
- 0.20 to 0.23 pF (Maximum)
- DC Breakdown Voltage: 6.4 V (Typical)
- Ultra Low Leakage Current: 10-nA (Maximum)
- Low ESD Clamping Voltage: 15 V at 16 A TLP
- Low Insertion Loss: 26.9 GHz (–3 dB Bandwidth, DPL)
- Supports High Speed Interfaces up to 20 Gbps
- Industrial Temperature Range: –40°C to +125°C
- Industry Standard 0201 and 0402 footprints
The TPD1E01B04 is a bidirectional TVS ESD protection diode array for USB Type-C and Thunderbolt 3 circuit protection. The TPD1E01B04 is rated to dissipate ESD strikes at the maximum level specified in the IEC 61000-4-2 international standard (Level 4).
This device features a 0.18 to 0.20-pF (typical) IO capacitance making it ideal for protecting high-speed interfaces up to 20 Gbps such as USB 3.1 Gen2 and Thunderbolt 3. The low dynamic resistance and low clamping voltage ensure system level protection against transient events.
The TPD1E01B04 is offered in the industry standard 0201 (DPL) package and 0402 (DPY) packages.
お客様が関心を持ちそうな類似品
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
技術資料
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
9 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPD1E01B04 1-Channel ESD Protection Diode for USB Type-C and Thunderbolt 3 データシート (Rev. C) | PDF | HTML | 2016年 12月 19日 | ||
| アプリケーション・ノート | ESD and Surge Protection for USB Interfaces (Rev. B) | PDF | HTML | 2024年 1月 11日 | |||
| セレクション・ガイド | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||||
| アプリケーション・ノート | ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 8月 18日 | |||
| ユーザー・ガイド | Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021年 9月 27日 | |||
| 技術記事 | ESD fundamentals, part 4: ESD capacitance | PDF | HTML | 2018年 2月 12日 | |||
| 技術記事 | USB Type-C™: Will your ESD solution protect the port? | PDF | HTML | 2016年 11月 21日 | |||
| 技術記事 | The dangers of deep snap-back ESD circuit-protection diodes | PDF | HTML | 2016年 9月 12日 | |||
| アプリケーション・ノート | Picking ESD Diodes for Ultra High-Speed Data Lines | 2016年 6月 29日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
ESDEVM — ESD の評価基板
静電気敏感性デバイス (ESD) の評価基板 (EVM) は、TI の ESD 製品ラインアップのほとんどに対応する開発プラットフォームです。この基板には、任意の数のデバイスをテストできるように、従来型の ESD フットプリントがすべて実装されています。デバイスは、適切なフットプリントに半田付けしてからテストすることができます。標準的な高速 ESD ダイオードの場合、インピーダンス制御されたレイアウトを実装することで、S パラメータを受け入れ、基板パターンの埋め込みを解除します。高速ではない ESD ダイオードの場合、テスト (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| X1SON (DPY) | 2 | Ultra Librarian |
| X2SON (DPL) | 2 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。