MMBZ30VCL-Q1
- Ultra Low I/O capacitance = 4.5pF (typical)
- Low leakage current <25nA
- Unidirectional ESD protection for 2 channels or Bidirectional for 1 channel
- IEC 61000-4-2 ESD protection:
- ±30kV contact discharge
- ±30kV air-gap discharge
- ISO 10605 (330pF, 330Ω) ESD protection:
- ±25kV contact discharge
- ±30kV air-gap discharge
- AEC-Q101 qualified
- Temperature range: –55°C to +150°C
- Leaded packages used for automatic optical inspection (AOI)
The MMBZ30VCL-Q1 is a dual channel unidirectional or single channel bidirectional ESD in a common cathode configuration. The device’s low capacitance and low leakage features enable use in high speed applications. The low dynamic resistance allows low clamping voltage to help protect systems against transient events. This protection is key as automotive systems require a high level of robustness and reliability when they control safety devices.
The MMBZ30VCL-Q1 is packaged in the SOT-23, providing two channels of robust transient protection in one space-efficient form factor.
기술 자료
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1개 모두 보기 | 유형 | 직함 | 날짜 | ||
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| * | Data sheet | MMBZ30VCL-Q1 Dual Channel ESD Protection datasheet | PDF | HTML | 2024/11/14 |
설계 및 개발
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평가 보드
ESDEVM — ESD 평가 모듈
ESD(정전기에 민감한 장치) EVM(평가 모듈)은 대부분의 ESD 포트폴리오를 위한 개발 플랫폼입니다. 이 보드에는 디바이스의 수를 테스트할 수 있도록 기존의 모든 ESD 풋프린트가 함께 제공됩니다. 장치를 적절한 풋프린트에 납땜한 후 테스트할 수 있습니다. 일반적인 고속 ESD 다이오드의 경우 S 매개 변수를 받고 보드 트레이스를 임베드하기 위해 임피던스 제어 레이아웃이 구현되어 있습니다. 비 고속 ESD 다이오드의 경우 고장 전압, 유지 전압, 누설 등의 DC 테스트를 쉽게 실행할 수 있도록 테스트 지점으로 가는 트레이스가 (...)
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| SOT-23 (DBZ) | 3 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치