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SN74LVC1G3157-Q1

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오토모티브 5V, 2:1(SPDT), 1채널 아날로그 스위치

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SN74LVC1G3157-Q1

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제품 상세 정보

Configuration 2:1 SPDT Number of channels 1 Power supply voltage - single (V) 1.8, 2.5, 3.3, 5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 6 CON (typ) (pF) 17.3 ON-state leakage current (max) (µA) 1 Supply current (typ) (µA) 1 Bandwidth (MHz) 300 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input/output continuous current (max) (mA) 128 Rating Automotive Drain supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (max) (V) 5.5
Configuration 2:1 SPDT Number of channels 1 Power supply voltage - single (V) 1.8, 2.5, 3.3, 5 Protocols Analog Ron (typ) (Ω) 6 CON (typ) (pF) 17.3 ON-state leakage current (max) (µA) 1 Supply current (typ) (µA) 1 Bandwidth (MHz) 300 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input/output continuous current (max) (mA) 128 Rating Automotive Drain supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (max) (V) 5.5
SOT-23 (DBV) 6 8.12 mm² 2.9 x 2.8 SOT-SC70 (DCK) 6 4.2 mm² 2 x 2.1
  • Functional safety-capable
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
  • ESD protection exceeds 2000 V per MIL-STD-883, method 3015; exceeds 200 V using machine model (C = 200 pF, R = 0)
  • 1.65-V to 5.5-V VCC operation
  • Useful for analog and digital applications
  • Specified break-before-make switching
  • Rail-to-rail signal handling
  • High degree of linearity
  • High speed, typically 0.5 ns (VCC = 3 V, CL = 50 pF)
  • Low ON-State resistance, typically ≉6 Ω (VCC = 4.5 V)
  • Latch-up performance exceeds 100 mA per JESD 78, Class II
  • Functional safety-capable
  • AEC-Q100 qualified for automotive applications:
    • Temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
  • ESD protection exceeds 2000 V per MIL-STD-883, method 3015; exceeds 200 V using machine model (C = 200 pF, R = 0)
  • 1.65-V to 5.5-V VCC operation
  • Useful for analog and digital applications
  • Specified break-before-make switching
  • Rail-to-rail signal handling
  • High degree of linearity
  • High speed, typically 0.5 ns (VCC = 3 V, CL = 50 pF)
  • Low ON-State resistance, typically ≉6 Ω (VCC = 4.5 V)
  • Latch-up performance exceeds 100 mA per JESD 78, Class II

The SN74LVC1G3157-Q1 device is a single-pole double-throw (SPDT) analog switch designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LVC1G3157 device can handle analog and digital signals. The device permits signals with amplitudes of up to VCC (peak) to be transmitted in either direction.

Applications include signal gating, chopping, modulation or demodulation (modem), and signal multiplexing for analog-to-digital and digital-to-analog conversion systems.

The SN74LVC1G3157-Q1 device is a single-pole double-throw (SPDT) analog switch designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LVC1G3157 device can handle analog and digital signals. The device permits signals with amplitudes of up to VCC (peak) to be transmitted in either direction.

Applications include signal gating, chopping, modulation or demodulation (modem), and signal multiplexing for analog-to-digital and digital-to-analog conversion systems.
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Application note LVC Characterization Information 1996/12/01
Application note Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996/10/01
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Application note Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996/05/01

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

DIP-ADAPTER-EVM — DIP 어댑터 평가 모듈

소형 표면 실장 IC(집적 회로)와 쉽고 빠르며 경제적인 방식으로 인터페이싱하는 방법을 제공하는 DIP 어댑터 평가 모듈(DIP-ADAPTER-EVM)로 연산 증폭기 프로토타이핑 및 테스트 속도를 높이세요. 제품에 포함된 Samtec 터미널 스트립을 사용하여 지원되는 연산 증폭기를 연결하거나 기존 회로에 직접 연결할 수 있습니다.

DIP 어댑터 EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 6개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.

  • D 및 U(SOIC-8)
  • PW(TSSOP-8)
  • DGK(MSOP-8, VSSOP-8)
  • (...)
사용 설명서: PDF
TI.com에서 구매 불가
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOT-23 (DBV) 6 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 6 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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