TLV4170
- Supply Range: 2.7 V to 36 V, ±1.35 V to ±18 V
- Low Noise: 22 nV/√Hz
- EMI-Hardened with RFI-Filtered Inputs
- Input Range Includes the Negative Supply
- Unity-Gain Stable: 200-pF Capacitive Load
- Rail-to-Rail Output
- Gain Bandwidth: 1.2 MHz
- Low Quiescent Current: 125 µA per Amplifier
- High Common-Mode Rejection: 110 dB
- Low Bias Current: 10 pA (typical)
The TLVx170 family of electromagnetic interference (EMI)-hardened, 36-V, single-supply, low-noise operational amplifiers (op amps) have a THD+N of 0.0002% at 1 kHz and can operate on supplies that range from 2.7 V (±1.35 V) to 36 V (±18V). These features, along with low noise and very high power-supply rejection ratio (PSRR), make the single-channel TLV170, dual-channel TLV2170, and quad-channel TLV4170 suitable for use in microvolt-level signal amplification. The TLVx170 family of devices also gives good offset, drift, and bandwidth with low quiescent current.
Unlike most op amps that are specified at only one supply voltage, the TLVx170 family of op amps is specified from 2.7 V to 36 V with the ability to swing input signals beyond the supply rails without phase reversal. The TLVx170 family is also unity-gain stable with a 200-pF capacitive load with a 1.2-MHz bandwidth and a 0.4-V/µs slew rate for use in current-to-voltage converters.
The device inputs can operate 100 mV below the negative rail and within 2 V of the positive rail for normal operation, and with full rail-to-rail input with reduced performance. The TLVx170 devices are specified from –40°C to +125°C.
기술 자료
유형 | 직함 | 날짜 | ||
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* | Data sheet | TLVx170 36-V, Single-Supply, EMI-Hardened, Low-Power Operational Amplifiers for Cost-Sensitive Systems datasheet (Rev. A) | PDF | HTML | 2018/05/09 |
E-book | The Signal e-book: A compendium of blog posts on op amp design topics | 2017/03/28 |
설계 및 개발
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패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
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SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 14 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
- 팹 위치
- 조립 위치