JAJSIL3M June   2007  – December 2024 REF5010 , REF5020 , REF5025 , REF5030 , REF5040 , REF5045 , REF5050

PRODUCTION DATA  

  1.   1
  2. 1 特長
  3. 2 アプリケーション
  4. 3 概要
  5. 4 デバイス比較表
  6. 5 ピン構成および機能
  7. 6 仕様
    1. 6.1 絶対最大定格
    2. 6.2 ESD 定格
    3. 6.3 推奨動作条件
    4. 6.4 熱に関する情報
    5. 6.5 電気的特性 REF50
    6. 6.6 電気的特性 REF50EI
    7. 6.7 代表的特性：REF50xxI、REF50xxAI
    8. 6.8 代表的特性：REF50xxEI
  8. 7 パラメータ測定情報
    1. 7.1 半田付けの熱による変動
  9. 8 詳細説明
    1. 8.1 概要
    2. 8.2 機能ブロック図
    3. 8.3 機能説明
      1. 8.3.1 温度監視
      2. 8.3.2 温度ドリフト
      3. 8.3.3 熱ヒステリシス
      4. 8.3.4 ノイズ性能
      5. 8.3.5 長期安定性
      6. 8.3.6 TRIM/NR ピンを使用した出力調整
    4. 8.4 デバイスの機能モード
      1. 8.4.1 基本的な接続
      2. 8.4.2 電源電圧
      3. 8.4.3 負のリファレンス電圧
  10. 9 アプリケーションと実装
    1. 9.1 アプリケーション情報
    2. 9.2 代表的なアプリケーション
      1. 9.2.1 16ビット、250KSPS のデータ・アクイジション・システム
        1. 9.2.1.1 設計要件
        2. 9.2.1.2 詳細な設計手順
        3. 9.2.1.3 アプリケーション曲線
  11. 10電源に関する推奨事項
  12. 11レイアウト
    1. 11.1 レイアウトのガイドライン
    2. 11.2 レイアウト例
    3. 11.3 電力散逸
  13. 12デバイスおよびドキュメントのサポート
    1. 12.1 ドキュメントのサポート
      1. 12.1.1 関連資料
    2. 12.2 ドキュメントの更新通知を受け取る方法
    3. 12.3 サポート・リソース
    4. 12.4 商標
    5. 12.5 用語集
  14. 13改訂履歴
  15. 14メカニカル、パッケージ、および注文情報

パッケージ・オプション

メカニカル・データ（パッケージ｜ピン）
サーマルパッド・メカニカル・データ
発注情報

8.3.5 長期安定性

あらゆる半導体デバイスは、経年劣化や環境の影響により、時間とともに半導体ダイとパッケージ材質の物理的な変化が発生します。これらの変化と、関連するパッケージからダイへの圧力により、高精度電圧リファレンスの出力電圧は時間の経過とともに変動します。このような変化の値は、データシートに長期安定性 (別名：長期ドリフト (LTD)) と呼ばれるパラメータで規定されています。LTD の計算方法を、式 5 に示します。LTD の値は、時間の経過に応じて出力電圧が高くドリフトする場合は正、時間の経過に応じて電圧が低下する場合は負になることに注意してください。REF50xx の最初の 4000 時間の動作における出力電圧のドリフトを、図 6-23 から図 6-30 までに示します。

式 5. REF5010 REF5020 REF5025 REF5030 REF5040 REF5045 REF5050

ここで

  • LTD(ppm)|t=n = 長期安定性 (ppm 単位)
  • VOUT|t=0 = 時間 = 0 時間での出力電圧
  • VOUT|t=n = 時間 = n 時間での出力電圧