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AFE2256

AKTIV

256-kanaliges analoges Frontend (AFE) für digitale Röntgen-Flatpanel-Detektoren

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Ähnliche Funktionalität wie verglichener Baustein
AFE3256 AKTIV 256-kanaliges analoges Frontend (AFE) für dynamische und halbdynamische Röntgen-Flatpanel-Detektoren Higher integration, fast scan time

AFE2256

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Produktdetails

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
COF (TBN) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDR) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDU) 320 1064 mm² 38 x 28
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

To request a full datasheet or other design resources: request AFE2256

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

To request a full datasheet or other design resources: request AFE2256

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Technische Dokumentation

star =Von TI ausgewählte Top-Empfehlungen für dieses Produkt
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Alle anzeigen 4
Typ Titel Datum
* Data sheet AFE2256 256-Channel, Analog Front-End for Digital X-Ray, Flat-Panel Detectors datasheet (Rev. C) PDF | HTML 13 Dez 2023
White paper Simplifying Power Conversion in High-Voltage Systems PDF | HTML 09 Nov 2023
Analog Design Journal Selecting a multichannel ultra-low-current measurement IC PDF | HTML 18 Mär 2022
Technical article Advancements in X-ray imaging PDF | HTML 28 Mär 2017

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

AFE2256EVM — Evaluierungsmodul für AFE2256 256-Kanal-AFE für digitale Röntgen-Flachbilddetektoren

Das AFE2256EVM ist ein kompaktes Evaluierungskit mit USB-Schnittstelle für das 256-kanalige Analog-Frontend AFE2256. Das EVM ist selbständig und verfügt über auf der Platine integrierte DACs und Stromerzeugung, wodurch die Abhängigkeit von externen Geräten erheblich reduziert wird. Das Kit besteht (...)

Benutzerhandbuch: PDF
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Simulationstool

PSPICE-FOR-TI — PSpice® für TI Design-und Simulationstool

PSpice® für TI ist eine Design- und Simulationsumgebung, welche Sie dabei unterstützt, die Funktionalität analoger Schaltungen zu evaluieren. Diese voll ausgestattete Design- und Simulationssuite verwendet eine analoge Analyse-Engine von Cadence®. PSpice für TI ist kostenlos erhältlich und (...)
Anfordern
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
COF (TBN) 325 Ultra Librarian
COF (TDR) 325 Ultra Librarian
COF (TDU) 320 Ultra Librarian
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