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DAC39RF10-SEP

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Strahlungstoleranter, Digital-Analog-Wandler mit 30 krad, 16 Bit, zwei Kanälen, 10,4 GS/s, 12 GHz

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DAC39RF10-SEP

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Produktdetails

Resolution (Bits) 16 Number of DAC channels 2 Interface type JESD204B, JESD204C Sample/update rate (Msps) 10400, 20800 Features Ultra High Speed Rating Space Interpolation 128x, 12x, 16x, 192x, 1x, 24x, 256x, 2x, 32x, 3x, 48x, 4x, 64x, 6x, 8x, 96x Power consumption (typ) (mW) 3800 SFDR (dB) 85 Architecture Current Source Operating temperature range (°C) -55 to 125 Reference type Ext, Int
Resolution (Bits) 16 Number of DAC channels 2 Interface type JESD204B, JESD204C Sample/update rate (Msps) 10400, 20800 Features Ultra High Speed Rating Space Interpolation 128x, 12x, 16x, 192x, 1x, 24x, 256x, 2x, 32x, 3x, 48x, 4x, 64x, 6x, 8x, 96x Power consumption (typ) (mW) 3800 SFDR (dB) 85 Architecture Current Source Operating temperature range (°C) -55 to 125 Reference type Ext, Int
FCBGA (ACL) 256 289 mm² 17 x 17
  • Radiation hardness assured DAC39RFx10-SP:
    • Single event upset (SEU) immune registers
    • Single-event latch up (SEL): 120MeV-cm2/mg
    • RLAT Total ionizing dose (TID): 300krad (Si)
  • Radiation tolerant DAC39RFx10-SEP:
    • Single event upset (SEU) immune registers
    • Single-event latch up (SEL): 43MeV-cm2/mg
    • RLAT Total ionizing dose (TID): 30krad (Si)
  • 16-bit, 10.4 or 20.8GSPS, multi-Nyquist DAC Cores
  • Maximum input data rate:
    • 8-bit, Single channel, DES mode: 20.8GSPS
    • 12-bit, Single channel, DES mode: 15.5GSPS
    • 16-bit, Single channel: 10.4GSPS
    • 8-bit, Dual channel, 10.4GSPS
    • 12-bit, Dual channel: 7.75GSPS/ch
    • 16-bit, Dual channel: 6.2GSPS/ch
  • Output bandwidth (-3dB): 12GHz
  • Performance at fOUT = 2.997GHz, DES2XL mode, DEM/Dither off
    • Noise floor (small signal): –155dBFS/Hz
    • SFDR (-0.1dBFS) : 60dBc
    • IMD3 (-7dBFS each tone) : –62dBc
    • Additive phase noise, 10kHz offset: -138dBc/Hz
  • Four Integrated digital up-converters (DUC)
    • Interpolation: 1x, 2x, 3x, 4x, 6x, 8x, 12x ... 256x
    • Complex baseband DUC for I/Q output
    • Complex to real up conversion for dual channel direct RF sampling
    • 64-bit frequency resolution NCOs
  • JESD204C Interface
    • Up to 16 Lanes at up to 12.8Gbps
    • Class C-S, subclass-1 Compatible
    • Internal AC coupling capacitors
  • SYSREF Windowing for automatic SYSREF timing calibration
  • Space screening and assurance:
    • Meets ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Wafer lot traceability
    • Extended product life cycle
    • Radiation lot acceptance test (RLAT)
    • Production burn-in (DAC39RFx10-SP only)
  • Radiation hardness assured DAC39RFx10-SP:
    • Single event upset (SEU) immune registers
    • Single-event latch up (SEL): 120MeV-cm2/mg
    • RLAT Total ionizing dose (TID): 300krad (Si)
  • Radiation tolerant DAC39RFx10-SEP:
    • Single event upset (SEU) immune registers
    • Single-event latch up (SEL): 43MeV-cm2/mg
    • RLAT Total ionizing dose (TID): 30krad (Si)
  • 16-bit, 10.4 or 20.8GSPS, multi-Nyquist DAC Cores
  • Maximum input data rate:
    • 8-bit, Single channel, DES mode: 20.8GSPS
    • 12-bit, Single channel, DES mode: 15.5GSPS
    • 16-bit, Single channel: 10.4GSPS
    • 8-bit, Dual channel, 10.4GSPS
    • 12-bit, Dual channel: 7.75GSPS/ch
    • 16-bit, Dual channel: 6.2GSPS/ch
  • Output bandwidth (-3dB): 12GHz
  • Performance at fOUT = 2.997GHz, DES2XL mode, DEM/Dither off
    • Noise floor (small signal): –155dBFS/Hz
    • SFDR (-0.1dBFS) : 60dBc
    • IMD3 (-7dBFS each tone) : –62dBc
    • Additive phase noise, 10kHz offset: -138dBc/Hz
  • Four Integrated digital up-converters (DUC)
    • Interpolation: 1x, 2x, 3x, 4x, 6x, 8x, 12x ... 256x
    • Complex baseband DUC for I/Q output
    • Complex to real up conversion for dual channel direct RF sampling
    • 64-bit frequency resolution NCOs
  • JESD204C Interface
    • Up to 16 Lanes at up to 12.8Gbps
    • Class C-S, subclass-1 Compatible
    • Internal AC coupling capacitors
  • SYSREF Windowing for automatic SYSREF timing calibration
  • Space screening and assurance:
    • Meets ASTM E595 outgassing specification
    • One fabrication, assembly, and test site
    • Wafer lot traceability
    • Extended product life cycle
    • Radiation lot acceptance test (RLAT)
    • Production burn-in (DAC39RFx10-SP only)

The DAC39RF10-Sx and ’RFS10-Sx are a family of dual and single channel digital-to-analog converters (DAC) with 16-bit resolution. The devices can be used as non-interpolating or interpolating DACs for either direct RF sampling or complex baseband signal generation. The maximum input data rate is 20.8GSPS for a single channel or 10.4 GSPS for two channels. The devices can generate signals of up to 10, 7.5, and 5GHz signal bandwidth (8, 12, and 16-bit input resolution) at carrier frequencies exceeding 10GHz enabling direct sampling in X-band.

The high sampling rate, output frequency range, 64-bit NCO frequency resolution and any frequency hopping with phase coherence also makes the DAC39RF10-Sx and ’RFS10-Sx capable of arbitrary waveform generation (AWG) and direct digital synthesis (DDS).

A JESD204B and JESD204C compatible serial interface has 16 receiver pairs capable of up to 12.8Gbps. The interface is JESD204B and JESD204C subclass-1 compliant for deterministic latency and multi-device synchronization through the use of SYSREF.

The DAC39RF10-Sx and ’RFS10-Sx are a family of dual and single channel digital-to-analog converters (DAC) with 16-bit resolution. The devices can be used as non-interpolating or interpolating DACs for either direct RF sampling or complex baseband signal generation. The maximum input data rate is 20.8GSPS for a single channel or 10.4 GSPS for two channels. The devices can generate signals of up to 10, 7.5, and 5GHz signal bandwidth (8, 12, and 16-bit input resolution) at carrier frequencies exceeding 10GHz enabling direct sampling in X-band.

The high sampling rate, output frequency range, 64-bit NCO frequency resolution and any frequency hopping with phase coherence also makes the DAC39RF10-Sx and ’RFS10-Sx capable of arbitrary waveform generation (AWG) and direct digital synthesis (DDS).

A JESD204B and JESD204C compatible serial interface has 16 receiver pairs capable of up to 12.8Gbps. The interface is JESD204B and JESD204C subclass-1 compliant for deterministic latency and multi-device synchronization through the use of SYSREF.
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Technische Dokumentation

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Typ Titel Datum
* Data sheet DAC39RFx10-SP DAC39RFx10-SEP 10.4 or 20.8GSPS, 16-bit, Dual and Single Channel, Multi-Nyquist Digital-to-Analog Converter (DAC) with JESD204C Interface datasheet PDF | HTML 25 Mär 2024

Design und Entwicklung

Weitere Bedingungen oder erforderliche Ressourcen enthält gegebenenfalls die Detailseite, die Sie durch Klicken auf einen der unten stehenden Titel erreichen.

Evaluierungsplatine

DAC39RF10EVM — DAC39RF10-Evaluierungsmodul

DAC39RF10EVM ist eine Evaluierungsplatine für die Evaluierung der Digital-Analog-Wandler (DAC) DAC39RF10 von Texas Instruments. DAC39RF10 ist ein zweikanaliger 16/8-Bit-DAC. DAC39RF10 ist eine Familie von Ein- und Zweikanal-Digital-Analog-Wandlern (DAC) mit 16-Bit Auflösung. Die Bausteine können (...)

Benutzerhandbuch: PDF | HTML
Nicht verfügbar auf TI.com
Simulationstool

PSPICE-FOR-TI — PSpice® für TI Design-und Simulationstool

PSpice® für TI ist eine Design- und Simulationsumgebung, welche Sie dabei unterstützt, die Funktionalität analoger Schaltungen zu evaluieren. Diese voll ausgestattete Design- und Simulationssuite verwendet eine analoge Analyse-Engine von Cadence®. PSpice für TI ist kostenlos erhältlich und (...)
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Referenzdesigns

TIDA-010274 — Referenzdesign für einen weltraumtauglichen diskreten HF-Sampling-Transceiver

Dieses Referenzdesign umfasst einen 10 GSPS-Dual-Digital-Analog-Wandler und einen 5 GSPS-Dual-Analog-Digital-Wandler mit aktiven Baluns an der HF-Schnittstelle mit Unterstützung bis zum X-Band. Das Design enthält außerdem eine weltraumtaugliche Tochterkarte für die Taktgebung und eine (...)
Design guide: PDF
Gehäuse Pins CAD-Symbole, Footprints und 3D-Modelle
FCBGA (ACL) 256 Ultra Librarian
Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen von TI für Evaluierungsartikel.

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  • REACH
  • Bausteinkennzeichnung
  • Blei-Finish/Ball-Material
  • MSL-Rating / Spitzenrückfluss
  • MTBF-/FIT-Schätzungen
  • Materialinhalt
  • Qualifikationszusammenfassung
  • Kontinuierliches Zuverlässigkeitsmonitoring
Beinhaltete Information:
  • Werksstandort
  • Montagestandort

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