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AFE2256

ACTIVO

Circuito frontal analógico (AFE) de 256 canales para detectores digitales de rayos X y pantalla plan

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NUEVO AFE3256 ACTIVO Circuito frontal analógico (AFE) de 256 canales para detectores dinámicos y semidinámicos de rayos X Higher integration, fast scan time

AFE2256

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Detalles del producto

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
COF (TBN) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDR) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDU) 320 1064 mm² 38 x 28
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages
  • 256 Channels
  • On-Chip, 16-Bit ADC
  • Photodiode Short Immunity
  • High Performance:
    • Noise: 750 Electrons RMS (1.2-pC Input Charge Range)
    • Low Correlated Noise
    • Integral Nonlinearity: ±2 LSB with Internal 16-Bit ADC
    • Scan Time: < 20 µs to 204.8 µs
  • Integration:
    • Six Selectable, Full-Scale Input Ranges: 0.6 pC (Minimum) to 9.6 pC (Maximum)
    • Internal Timing Generator (TG)
    • Built-In Correlated Double Sampler
    • Pipelined Integrate-and-Read for Improved Throughput—Data-Read During Integration
    • Serial LVDS Output
  • Simple Power-Supply Scheme:
    • AVDD1 = 1.85 V
    • AVDD2 = 3.3 V
  • Low Power Consumption
  • Nap and Total Power-Down Modes
  • Custom Chip-On-Film (COF) Packages

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

To request a full datasheet or other design resources: request AFE2256

The AFE2256 is a 256-channel, analog front-end (AFE) designed to suit the requirements of flat-panel detector (FPD) based digital x-ray systems. The device includes 256 integrators, a programmable gain amplifier (PGA) for full-scale charge level selection, a correlated double sampler with dual banking, and 256:4 analog multiplexers.

The device also features four 16-bit successive-approximation register (SAR) analog-to-digital converters (ADCs). Serial data from the ADCs are available in low-voltage differential signaling (LVDS) format.

The nap and power-down modes enable substantial power savings, and are especially useful in battery-powered systems.

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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet AFE2256 256-Channel, Analog Front-End for Digital X-Ray, Flat-Panel Detectors datasheet (Rev. C) PDF | HTML 13 dic 2023
White paper Simplifying Power Conversion in High-Voltage Systems PDF | HTML 09 nov 2023
Analog Design Journal Selecting a multichannel ultra-low-current measurement IC PDF | HTML 18 mar 2022
Technical article Advancements in X-ray imaging PDF | HTML 28 mar 2017

Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

AFE2256EVM — Frontal analógico AFE AFE2256 de 256 canales para módulo de evaluación de detectores digitales de ra

The AFE2256EVM is a compact USB based evaluation kit for evaluating the AFE2256 COF, a 256-channel analog front-end. The EVM is self-contained with DACs and power generation on-board which greatly reduces its dependency on external equipment. The kit consists of an EVM and two separate COF adapters (...)

Guía del usuario: PDF
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Herramienta de simulación

PSPICE-FOR-TI — PSpice® para herramienta de diseño y simulación de TI

PSpice® for TI is a design and simulation environment that helps evaluate functionality of analog circuits. This full-featured, design and simulation suite uses an analog analysis engine from Cadence®. Available at no cost, PSpice for TI includes one of the largest model libraries in the (...)
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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
COF (TBN) 325 Ultra Librarian
COF (TDR) 325 Ultra Librarian
COF (TDU) 320 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

Los productos recomendados pueden tener parámetros, módulos de evaluación o diseños de referencia relacionados con este producto de TI.

Soporte y capacitación

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