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INA116

NO RECOMENDADO PARA NUEVOS DISEÑOS

Amplificador de instrumentación de corriente de polarización de entrada ultrabaja

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INA116

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Detalles del producto

Number of channels 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 9 Input offset (±) (max) (µV) 2000 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1000 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 28 CMRR (min) (dB) 86 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 5 Input bias current (±) (max) (nA) 0.000025 Iq (typ) (mA) 1 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 0.8 Gain error (±) (max) (%) 0.7 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog Type Resistor Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.005 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.2 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.7 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 2.4 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -2 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 2
Number of channels 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 9 Input offset (±) (max) (µV) 2000 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1000 Noise at 1 kHz (typ) (nV√Hz) 28 CMRR (min) (dB) 86 Input offset drift (±) (max) (µV/°C) 5 Input bias current (±) (max) (nA) 0.000025 Iq (typ) (mA) 1 Bandwidth at min gain (typ) (MHz) 0.8 Gain error (±) (max) (%) 0.7 Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog Type Resistor Gain nonlinearity (±) (max) (%) 0.005 Output swing headroom (to negative supply) (typ) (V) 0.2 Output swing headroom (to positive supply) (typ) (V) -0.7 Input common mode headroom (to negative supply) (typ) (V) 2.4 Input common mode headroom (to positive supply) (typ) (V) -2 Noise at 0.1 Hz to 10 Hz (typ) (µVPP) 2
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (DW) 16 106.09 mm² 10.3 x 10.3
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Documentación técnica

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Tipo Título Fecha
* Data sheet Ultra Low Input Bias Current Instrumentation Amplifier datasheet 27 sep 2000

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL) / reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje