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D/A コンバータ (DAC)
高速 DAC (10MSPS 超過)

DAC5662-EP

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エンハンスド製品、12 ビット、200MSPS、デュアル、D/A コンバータ

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製品詳細

Resolution (Bits) 12 Number of DAC channels 2 Interface type Parallel CMOS Sample/update rate (Msps) 200 Features Low Power Rating HiRel Enhanced Product Interpolation 1x Power consumption (typ) (mW) 330 SFDR (dB) 85 Architecture Current Source Operating temperature range (°C) -55 to 125 Reference type Ext
Resolution (Bits) 12 Number of DAC channels 2 Interface type Parallel CMOS Sample/update rate (Msps) 200 Features Low Power Rating HiRel Enhanced Product Interpolation 1x Power consumption (typ) (mW) 330 SFDR (dB) 85 Architecture Current Source Operating temperature range (°C) -55 to 125 Reference type Ext
TQFP (PFB) 48 81 mm² 9 x 9
  • Controlled Baseline
    • One Assembly
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • 12-Bit Dual Transmit Digital-to-Analog Converter (DAC)
  • 200-MSPS Update Rate
  • Single Supply: 3 V to 3.6 V
  • High Spurious-Free Dynamic Range (SFDR): 85 dBc at 5 MHz
  • High Third-Order Two-Tone Intermodulation (IMD3): 78 dBc at 15.1 and 16.1 MHz
  • WCDMA Adjacent Channel Leakage Ratio (ACLR): 70 dB at 30.72 MHz
  • Independent or Single Resistor Gain Control
  • Dual or Interleaved Data
  • On-Chip 1.2-V Reference
  • Low Power: 330 mW
  • Power-Down Mode: 15 mW
  • Package: 48-Pin Thin Quad Flat Pack (TQFP)
  • APPLICATIONS
    • Cellular Base Transceiver Station Transmit Channel
      • CDMA: W-CDMA, CDMA2000, IS-95
      • TDMA: GSM, IS-136, EDGE/UWC-136
    • Medical/Test Instrumentation
    • Arbitrary Waveform Generators (ARB)
    • Direct Digital Synthesis (DDS)
    • Cable Modem Termination System (CMTS)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • 12-Bit Dual Transmit Digital-to-Analog Converter (DAC)
  • 200-MSPS Update Rate
  • Single Supply: 3 V to 3.6 V
  • High Spurious-Free Dynamic Range (SFDR): 85 dBc at 5 MHz
  • High Third-Order Two-Tone Intermodulation (IMD3): 78 dBc at 15.1 and 16.1 MHz
  • WCDMA Adjacent Channel Leakage Ratio (ACLR): 70 dB at 30.72 MHz
  • Independent or Single Resistor Gain Control
  • Dual or Interleaved Data
  • On-Chip 1.2-V Reference
  • Low Power: 330 mW
  • Power-Down Mode: 15 mW
  • Package: 48-Pin Thin Quad Flat Pack (TQFP)
  • APPLICATIONS
    • Cellular Base Transceiver Station Transmit Channel
      • CDMA: W-CDMA, CDMA2000, IS-95
      • TDMA: GSM, IS-136, EDGE/UWC-136
    • Medical/Test Instrumentation
    • Arbitrary Waveform Generators (ARB)
    • Direct Digital Synthesis (DDS)
    • Cable Modem Termination System (CMTS)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The DAC5662 is a monolithic, dual-channel 12-bit, high-speed digital-to-analog converter (DAC) with on-chip voltage reference.

Operating with update rates of up to 200 MSPS, the DAC5662 offers exceptional dynamic performance, tight gain, and offset matching characteristics that make it suitable in either I/Q baseband or direct IF communication applications.

Each DAC has a high-impedance differential-current output, suitable for single-ended or differential analog-output configurations. External resistors allow scaling the full-scale output current for each DAC separately or together, typically between 2 mA and 20 mA. An accurate on-chip voltage reference is temperature compensated and delivers a stable 1.2-V reference voltage. Optionally, an external reference may be used.

The DAC5662 has two 12-bit parallel input ports with separate clocks and data latches. For flexibility, the DAC5662 also supports multiplexed data for each DAC on one port when operating in the interleaved mode.

The DAC5662 has been specifically designed for a differential transformer coupled output with a 50- doubly terminated load. For a 20-mA full-scale output current a 4:1 impedance ratio (resulting in an output power of 4 dBm) and 1:1 impedance ratio transformer (-2-dBm output power) are supported.

The DAC5662 is available in a 48-pin thin quad flat pack (TQFP). Pin compatibility between family members provides 12-bit (DAC5662) and 14-bit (DAC5672) resolution. Furthermore, the DAC5662 is pin compatible to the DAC2902 and AD9765 dual DACs. The device is characterized for operation over the military temperature range of -55°C to 125°C.

The DAC5662 is a monolithic, dual-channel 12-bit, high-speed digital-to-analog converter (DAC) with on-chip voltage reference.

Operating with update rates of up to 200 MSPS, the DAC5662 offers exceptional dynamic performance, tight gain, and offset matching characteristics that make it suitable in either I/Q baseband or direct IF communication applications.

Each DAC has a high-impedance differential-current output, suitable for single-ended or differential analog-output configurations. External resistors allow scaling the full-scale output current for each DAC separately or together, typically between 2 mA and 20 mA. An accurate on-chip voltage reference is temperature compensated and delivers a stable 1.2-V reference voltage. Optionally, an external reference may be used.

The DAC5662 has two 12-bit parallel input ports with separate clocks and data latches. For flexibility, the DAC5662 also supports multiplexed data for each DAC on one port when operating in the interleaved mode.

The DAC5662 has been specifically designed for a differential transformer coupled output with a 50- doubly terminated load. For a 20-mA full-scale output current a 4:1 impedance ratio (resulting in an output power of 4 dBm) and 1:1 impedance ratio transformer (-2-dBm output power) are supported.

The DAC5662 is available in a 48-pin thin quad flat pack (TQFP). Pin compatibility between family members provides 12-bit (DAC5662) and 14-bit (DAC5672) resolution. Furthermore, the DAC5662 is pin compatible to the DAC2902 and AD9765 dual DACs. The device is characterized for operation over the military temperature range of -55°C to 125°C.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート DAC5662-EP データシート (Rev. A) 2006年 10月 10日
* 放射線と信頼性レポート DAC5662MPFBREP Reliability Report 2016年 8月 16日
* VID DAC5662-EP VID V6206651 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート High Speed, Digital-to-Analog Converters Basics (Rev. A) 2012年 10月 23日
アプリケーション・ノート 高速データ変換 英語版 2009年 12月 11日
アプリケーション・ノート データ・コンバータのドリフトに関する設計者の必須知識: 最悪劣化度の構成要素を理解して仕様の条件を減らす 2009年 4月 22日

設計および開発

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シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
リクエスト
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TQFP (PFB) 48 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

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