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LOG300

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低ノイズ アンプ内蔵、50MHz、対数検出器

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製品詳細

Offset voltage (input amplifiers) (max) (mV) 2000 Vs (±) (min) (V) 3 Vs (±) (max) (V) 5 Iq (max) (mA) 5 Dynamic range (typ) (dB) 97 Reference type Ext Auxiliary op amps 0 Full-scale output voltage (min) (±V) 0 Full-scale output voltage (max) (±V) 5.85 Conformity error (initial 5 decades) (max) (%) 1 Conformity error (initial 5 decades) (typ. over temp) (%/°C) 1 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
Offset voltage (input amplifiers) (max) (mV) 2000 Vs (±) (min) (V) 3 Vs (±) (max) (V) 5 Iq (max) (mA) 5 Dynamic range (typ) (dB) 97 Reference type Ext Auxiliary op amps 0 Full-scale output voltage (min) (±V) 0 Full-scale output voltage (max) (±V) 5.85 Conformity error (initial 5 decades) (max) (%) 1 Conformity error (initial 5 decades) (typ. over temp) (%/°C) 1 Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 VQFN (RGT) 16 9 mm² 3 x 3
  • 入力範囲：
    • LNA + 対数検出器：7µVP～200mVP
    • 対数検出器：20µVP～1.6VP
  • 入力に対する出力の「スロープ」と「応答時間」を調整可能
  • ダイナミック レンジ：98dB (対数適合性誤差 (LCE) = ±1dB の場合)
  • 最大 40MHz の信号検出 (LCE が小さい場合、さらに高い周波数の信号を検出できます。)
  • 入力周波数検出、ゼロクロス検出
  • 電源電圧：3V～5.25V
  • 入力範囲：
    • LNA + 対数検出器：7µVP～200mVP
    • 対数検出器：20µVP～1.6VP
  • 入力に対する出力の「スロープ」と「応答時間」を調整可能
  • ダイナミック レンジ：98dB (対数適合性誤差 (LCE) = ±1dB の場合)
  • 最大 40MHz の信号検出 (LCE が小さい場合、さらに高い周波数の信号を検出できます。)
  • 入力周波数検出、ゼロクロス検出
  • 電源電圧：3V～5.25V

LOG300 は、低ノイズアンプ (LNA) と対数検出器ブロックで構成された統合型アナログ フロント エンド (AFE) です。このデバイスは最大 40MHz の入力周波数範囲と 98dB (標準値) のダイナミック レンジに対応しています。LOG300 は、広いダイナミック レンジの電圧および信号測定が求められるアプリケーションに適しています。LOG300 の対数検出器ブロックは、シングルエンド入力と差動入力の両方をサポートしています。内蔵 LNA は入力ノイズが小さいため、最小 7µVP の信号を測定できます。Log_Out ピンに接続されたコンデンサを調整することで、過渡出力応答を調整できます。LOG300 の内蔵周波数検出機能を使うと、入力信号の周波数とゼロクロス情報を抽出できます。

LOG300 は、16 ピン SOIC および 16 ピン VQFN パッケージで供給されます。LOG300 は、-40℃～+125℃の周囲温度範囲全体にわたって、3V～5.25V の電源で動作します。

LOG300 は、低ノイズアンプ (LNA) と対数検出器ブロックで構成された統合型アナログ フロント エンド (AFE) です。このデバイスは最大 40MHz の入力周波数範囲と 98dB (標準値) のダイナミック レンジに対応しています。LOG300 は、広いダイナミック レンジの電圧および信号測定が求められるアプリケーションに適しています。LOG300 の対数検出器ブロックは、シングルエンド入力と差動入力の両方をサポートしています。内蔵 LNA は入力ノイズが小さいため、最小 7µVP の信号を測定できます。Log_Out ピンに接続されたコンデンサを調整することで、過渡出力応答を調整できます。LOG300 の内蔵周波数検出機能を使うと、入力信号の周波数とゼロクロス情報を抽出できます。

LOG300 は、16 ピン SOIC および 16 ピン VQFN パッケージで供給されます。LOG300 は、-40℃～+125℃の周囲温度範囲全体にわたって、3V～5.25V の電源で動作します。
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート LOG300 低ノイズ アンプ内蔵、40MHz、98dB 対数検出器 データシート (Rev. A 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.A) PDF | HTML 2024年 11月 1日
アプリケーション・ノート Ultrasonic Sensing Using LOG Detector Amplifier PDF | HTML 2024年 10月 1日
証明書 LOG300DEVM EU Declaration of Conformity (DoC) 2024年 9月 24日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

LOG300DEVM — LOG300D の評価基板

LOG300D は、16 ピン SOIC パッケージに封止した LOG300 アンプの評価基板 (EVM) です。この評価基板は、アンプの機能と汎用性を迅速かつ容易にデモできる設計を採用しています。複数のオンボード コネクタを使用して、この評価基板 (EVM) を電源、信号源、テスト機器にすぐに接続することができます。この評価基板 (EVM) の入力端子を、50Ω の一般的なラボ用機器に容易に接続できるように構成した状態で出荷します。出力は 1 個の SMA コネクタに接続済みです。また、この基板は複数のジャンパも搭載しており、IC の LNA (...)

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
シミュレーション・モデル

LOG300 TINA-TI Model

SLOM524.ZIP (34 KB) - TINA-TI Spice Model
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シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
リクエスト
シミュレーション・ツール

TINA-TI — SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

ユーザー ガイド: PDF
英語版 (Rev.A): PDF
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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
VQFN (RGT) 16 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

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