SN54BCT8245A

アクティブ

オクタル・バス・トランシーバ搭載、スキャン・テスト・デバイス

製品詳細

Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family BCT Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family BCT Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (JT) 24 221.44 mm² 32 x 6.92 LCCC (FK) 28 130.6449 mm² 11.43 x 11.43
  • Members of the Texas Instruments SCOPETM Family of Testability Products
  • Octal Test-Integrated Circuits
  • Functionally Equivalent to 'F245 and 'BCT245 in the Normal- Function Mode
  • Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
  • Test Operation Synchronous to Test Access Port (TAP)
  • Implement Optional Test Reset Signal by Recognizing a Double-High-Level Voltage (10 V) on TMS Pin
  • SCOPETM Instruction Set
    • IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instructions, Optional INTEST, CLAMP, and HIGHZ
    • Parallel-Signature Analysis at Inputs
    • Pseudo-Random Pattern Generation From Outputs
    • Sample Inputs/Toggle Outputs
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (DW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs (JT, NT)

 

SCOPE is a trademark of Texas Instruments Incorporated.

  • Members of the Texas Instruments SCOPETM Family of Testability Products
  • Octal Test-Integrated Circuits
  • Functionally Equivalent to 'F245 and 'BCT245 in the Normal- Function Mode
  • Compatible With the IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
  • Test Operation Synchronous to Test Access Port (TAP)
  • Implement Optional Test Reset Signal by Recognizing a Double-High-Level Voltage (10 V) on TMS Pin
  • SCOPETM Instruction Set
    • IEEE Standard 1149.1-1990 Required Instructions, Optional INTEST, CLAMP, and HIGHZ
    • Parallel-Signature Analysis at Inputs
    • Pseudo-Random Pattern Generation From Outputs
    • Sample Inputs/Toggle Outputs
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (DW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs (JT, NT)

 

SCOPE is a trademark of Texas Instruments Incorporated.

The 'BCT8245A scan test devices with octal bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface.

In the normal mode, these devices are functionally equivalent to the 'F245 and 'BCT245 octal bus transceivers. The test circuitry can be activated by the TAP to take snapshot samples of the data appearing at the device terminals or to perform a self test on the boundary-test cells. Activating the TAP in normal mode does not affect the functional operation of the SCOPETM octal bus transceivers.

In the test mode, the normal operation of the SCOPETM octal bus transceivers is inhibited and the test circuitry is enabled to observe and control the I/O boundary of the device. When enabled, the test circuitry can perform boundary-scan test operations as described in IEEE Standard 1149.1-1990.

 

Four dedicated test terminals control the operation of the test circuitry: test data input (TDI), test data output (TDO), test mode select (TMS), and test clock (TCK). Additionally, the test circuitry performs other testing functions such as parallel-signature analysis (PSA) on data inputs and pseudo-random pattern generation (PRPG) from data outputs. All testing and scan operations are synchronized to the TAP interface.

The SN54BCT8245A is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74BCT8245A is characterized for operation from 0°C to 70°C.

The 'BCT8245A scan test devices with octal bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface.

In the normal mode, these devices are functionally equivalent to the 'F245 and 'BCT245 octal bus transceivers. The test circuitry can be activated by the TAP to take snapshot samples of the data appearing at the device terminals or to perform a self test on the boundary-test cells. Activating the TAP in normal mode does not affect the functional operation of the SCOPETM octal bus transceivers.

In the test mode, the normal operation of the SCOPETM octal bus transceivers is inhibited and the test circuitry is enabled to observe and control the I/O boundary of the device. When enabled, the test circuitry can perform boundary-scan test operations as described in IEEE Standard 1149.1-1990.

 

Four dedicated test terminals control the operation of the test circuitry: test data input (TDI), test data output (TDO), test mode select (TMS), and test clock (TCK). Additionally, the test circuitry performs other testing functions such as parallel-signature analysis (PSA) on data inputs and pseudo-random pattern generation (PRPG) from data outputs. All testing and scan operations are synchronized to the TAP interface.

The SN54BCT8245A is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74BCT8245A is characterized for operation from 0°C to 70°C.

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
13 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Scan Test Devices With Octal Bus Transceivers データシート (Rev. E) 1996年 7月 1日
* SMD SN54BCT8245A SMD 5962-91728 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

シミュレーション・モデル

BSDL Model of SN74BCT8245A

SCTM043.ZIP (2 KB) - BSDL Model
シミュレーション・モデル

BSDL Model of SN74BCT8245A (A to B Port)

SCTM003.ZIP (2 KB) - BSDL Model
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (JT) 24 Ultra Librarian
LCCC (FK) 28 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ