SN7447A
- '46A, '47A, 'LS47 feature
- Open-Collector Outputs Drive Indicators Directly
- Lamp-Test Provision
- Leading/Trailing Zero Suppression
- '48, 'LS48 feature
- Internal Pull-Ups Eliminate Need for External Resistors
- Lamp-Test Provision
- Leading/Trailing Zero Suppression
- 'LS49 feature
- Open-Collector Outputs
- Blanking Input
- All Circuit Types Feature Lamp Intensity Modulation Capability
The '46A, '47A, and 'LS47 feature active-low outputs designed for driving, common-anode LEDs or incandescent indicators directly. The '48, 'LS48, and 'LS49 feature active-high outputs for driving lamp buffers or common-cathode LEDs. All of the circuits except 'LS49 have full ripple-blanking input/output controls and a lamp test input. The 'LS49 circuit incorporates a direct blanking input. Segment identification and resultant displays are shown below. Display patterns for BCD input counts above 9 are unique symbols to authenticate input conditions.
The '46A, '47A, '48, 'LS47, and 'LS48 circuits incorporate automatic leading and/or trailing-edge zero-blanking control (RBI\ and RBO\). Lamp test (LT\) of these types may be performed at any time when the BI\/RBO\ node is at a high level. All types (including the '49 and 'LS49) contain an overriding blanking input (BI\), which can be used to control the lamp intensity by pulsing or to inhibit the outputs. Inputs and outputs are entirely compatible for use with TTL logic outputs.
The SN54246/SN74246 and '247 and the SN54LS247/SN74LS247 and 'LS248 compose the 6 and the 9 with tails and were designed to offer the designer a choice between two indicator fonts.
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技術資料
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設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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PDIP (N) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点