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SN74ALVC244-EP

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エンハンスド製品、バス・ホールド、3 ステート出力、8 チャネル、1.65V ～ 3.6V バッファ

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製品詳細

Technology family ALVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 3.6 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 24 Supply current (max) (µA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Bus-hold, Damping resistors, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family ALVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 3.6 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 24 Supply current (max) (µA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Bus-hold, Damping resistors, Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Operates From 1.65-V to 3.6-V VCC
  • Max tpd of 2.8 ns at 3.3-V VCC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3-V VCC
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Operates From 1.65-V to 3.6-V VCC
  • Max tpd of 2.8 ns at 3.3-V VCC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3-V VCC
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This octal buffer/line driver is designed for 1.65-V to 3.6-V VCC operation.

The SN74ALVC244 is organized as two 4-bit line drivers with separate output-enable (OE)\ inputs. When OE\ is low, the device passes data from the A inputs to the Y outputs. When OE\ is high, the outputs are in the high-impedance state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ shall be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

This octal buffer/line driver is designed for 1.65-V to 3.6-V VCC operation.

The SN74ALVC244 is organized as two 4-bit line drivers with separate output-enable (OE)\ inputs. When OE\ is low, the device passes data from the A inputs to the Y outputs. When OE\ is high, the outputs are in the high-impedance state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ shall be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74ALVC244-EP データシート (Rev. A) 2004年 9月 29日
* VID SN74ALVC244-EP VID V6204762 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート SN74ALVC244IPWREP Reliability Report 2012年 3月 15日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
ユーザー・ガイド ALVC Advanced Low-Voltage CMOS Including SSTL, HSTL, And ALB (Rev. B) 2002年 8月 1日
その他の技術資料 Standard Linear & Logic for PCs, Servers & Motherboards 2002年 6月 13日
アプリケーション・ノート 16-Bit Widebus Logic Families in 56-Ball, 0.65-mm Pitch Very Thin Fine-Pitch BGA (Rev. B) 2002年 5月 22日
アプリケーション・ノート Benefits & Issues of Migrating 5-V and 3.3-V Logic to Lower-Voltage Supplies (Rev. A) 1999年 9月 8日
アプリケーション・ノート TI SN74ALVC16835 Component Specification Analysis for PC100 1998年 8月 3日
アプリケーション・ノート Logic Solutions for PC-100 SDRAM Registered DIMMs (Rev. A) 1998年 5月 13日
アプリケーション・ノート Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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