データシート
TPD2EUSB30
- USB 3.0 のデータ・レート (5Gbps) をサポート
- IEC 61000-4-2 ESD 保護 (レベル 4 接触)
- IEC 61000-4-5 サージ保護
- 5A (8/20µs)
- 低キャパシタンス
- DRT：0.7pF (標準値)
- DQA：0.8pF (標準値)
- 動的抵抗：0.6Ω (標準値)
- コンパクトな DRT、DQA パッケージ
- フロースルー・ピン配置
TPD2EUSB30、TPD2EUSB30A、TPD4EUSB30 は、2 および 4 チャネルの過渡電圧サプレッサ (TVS) を使用した静電気放電 (ESD) 保護ダイオード・アレイです。TPDxEUSB30/A デバイスは、IEC 61000-4-2 国際規格 (接触) で規定されている最大レベルの ESD 耐性を備えています。これらのデバイスは、IEC 61000-4-5 (サージ) 仕様に基づく 5A (8/20µs) のピーク・パルス電流定格も持っています。
TPD2EUSB30A は、4.5V の低い DC ブレークダウン電圧を持っています。その低い静電容量、低いブレークダウン電圧、低い動的抵抗により、TPD2EUSB30A は高速差動 IO に適した優れた保護デバイスと言えます。
TPD2EUSB30 と TPD2EUSB30A は、コンパクトな DRT (1mm × 1mm) パッケージで供給されます。TPD4EUSB30 は、コンパクトな DQA (2.5mm × 1.0mm) パッケージで供給されます。
技術資料
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10 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPDxEUSB30 2、4 チャネル ESD 保護、Super-Speed USB 3.0 インターフェイス用 データシート (Rev. G 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.G) | PDF | HTML | 2021年 7月 13日 |
| アプリケーション・ノート | ESD and Surge Protection for USB Interfaces (Rev. B) | PDF | HTML | 2024年 1月 11日 | |||
| ユーザー・ガイド | Reading and Understanding an ESD Protection Data Sheet (Rev. A) | PDF | HTML | 2023年 9月 19日 | |||
| アプリケーション・ノート | Capacitance Requirements for High Speed Signals (Rev. A) | PDF | HTML | 2023年 8月 21日 | |||
| セレクション・ガイド | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||||
| アプリケーション・ノート | ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 8月 18日 | |||
| アプリケーション・ノート | ESD Protection Layout Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 4月 7日 | |||
| ユーザー・ガイド | Generic ESD Evaluation Module User's Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2021年 9月 27日 | |||
| ホワイト・ペーパー | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 | ||||
| Analog Design Journal | Design Considerations for System-Level ESD Circuit Protection | 2012年 9月 25日 |
設計および開発
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| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| SOT-9X3 (DRT) | 3 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。