データシート
UCC21225A
- 汎用: デュアル・ローサイド、デュアル・ハイサイド、またはハーフ・ブリッジ・ドライバ
- 5mm×5mmの省スペースLGA-13パッケージ
- スイッチング・パラメータ
- 伝搬遅延 19ns (標準値)
- 最大遅延マッチング 5ns
- 最大パルス幅歪み 6ns
- 100V/nsを超えるCMTI
- ピーク・ソース4A、ピーク・シンク6Aの出力
- TTLおよびCMOS互換の入力
- 入力VCCI範囲: 3V～18V
- 最大25VのVDD、5VのUVLO
- オーバーラップおよびデッドタイムをプログラミング可能
- 5ns未満の入力過渡を除去
- 高速なディセーブルによる電源シーケンシング
- 安全性関連の認定:
- DIN V VDE V 0884-11:2017-01に準拠した絶縁耐圧: 3535VPK
- UL 1577に準拠した絶縁耐圧: 2500VRMS (1分間)
- GB4943.1-2011準拠のCQC(予定)
UCC21225Aは、ピーク電流がソース4A、シンク6Aの絶縁型デュアル・チャネル・ゲート・ドライバであり、5mm×5mmのLGA-13パッケージに搭載されています。パワー・トランジスタを最高5MHzで駆動し、クラス最高の伝搬遅延とパルス幅歪みを実現するように設計されています。
入力側は2.5kVRMSの絶縁バリアによって2つの出力ドライバと分離され、同相過渡耐性(CMTI)は最小で100V/nsです。2つの2次側ドライバ間は、内部で機能的に絶縁されているため、700VDCまでの電圧で動作します。
このドライバは2つのローサイド、2つのハイサイド、または1つのハーフ・ブリッジ・ドライバとして構成可能で、デッドタイム(DT)をプログラミングできます。ディセーブル・ピンがHIGHに設定されると、両方の出力が同時にシャットダウンし、オープンまたは接地したときには通常動作します。
このデバイスは、最高25VのVDD電源電圧に対応できます。VCCI入力範囲が3V～18Vと広いため、このドライバはアナログとデジタル両方のコントローラとの接続に適しています。すべての電源電圧ピンには、低電圧誤動作防止(UVLO)保護機能が搭載されています。
これらの高度な機能により、UCC21225Aは広範な電源アプリケーションにおいて高い電力密度、高い効率、堅牢性を実現します。
技術資料
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8 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | UCC21225A 4A、6A、2.5kVRMS絶縁デュアル・チャネル・ゲート・ドライバ、LGAパッケージ データシート (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2018年 6月 25日 |
| 証明書 | VDE Certificate for Basic Isolation for DIN EN IEC 60747-17 (Rev. W) | 2024年 1月 31日 | ||||
| アプリケーション概要 | External Gate Resistor Selection Guide (Rev. A) | 2020年 2月 28日 | ||||
| アプリケーション概要 | Understanding Peak IOH and IOL Currents (Rev. A) | 2020年 2月 28日 | ||||
| アプリケーション概要 | How to Drive High Voltage GaN FETs with UCC21220A | 2019年 3月 6日 | ||||
| 証明書 | UL Certification E181974 Vol 4. Sec 8 (Rev. A) | 2018年 7月 23日 | ||||
| 証明書 | CQC Product Certificate 2 | 2018年 2月 7日 | ||||
| EVM ユーザー ガイド (英語) | Using the UCC21225AEVM-365 | 2017年 3月 14日 |
設計および開発
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評価ボード
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| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| VLGA (NPL) | 13 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。