JAJA772A December   2023  – January 2024 AM2631 , AM2631-Q1 , AM2632 , AM2632-Q1 , AM2634 , AM2634-Q1 , AM263P2 , AM263P4 , AM263P4-Q1 , AMC1303M2520 , AMC1305L25 , AMC1306M25 , TMS320F280033 , TMS320F280034 , TMS320F280034-Q1 , TMS320F280036-Q1 , TMS320F280036C-Q1 , TMS320F280037 , TMS320F280037-Q1 , TMS320F280037C , TMS320F280037C-Q1 , TMS320F280038-Q1 , TMS320F280038C-Q1 , TMS320F280039 , TMS320F280039-Q1 , TMS320F280039C , TMS320F280039C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S , TMS320F28384D , TMS320F28384D-Q1 , TMS320F28384S , TMS320F28384S-Q1 , TMS320F28386D , TMS320F28386D-Q1 , TMS320F28386S , TMS320F28386S-Q1 , TMS320F28388D , TMS320F28388S , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1

 

  1.   1
  2.   概要
  3.   商標
  4. 1はじめに
  5. 2デジタル インターフェイスのタイミング仕様に関する設計上の課題
  6. 3クロック エッジ遅延補償を使用した設計アプローチ
    1. 3.1 ソフトウェアで設定可能な位相遅延によるクロック信号補償
    2. 3.2 ハードウェアで構成可能な位相遅延によるクロック信号補償
    3. 3.3 クロック復帰によるクロック信号補償
    4. 3.4 MCU におけるクロック反転によるクロック信号補償
  7. 4テストと検証
    1. 4.1 試験装置とソフトウェア
    2. 4.2 ソフトウェアで設定可能な位相遅延によるクロック信号補償のテスト
      1. 4.2.1 テスト構成
      2. 4.2.2 テスト測定結果
    3. 4.3 MCU におけるクロック反転によるクロック信号補償のテスト
      1. 4.3.1 テスト構成
      2. 4.3.2 テスト測定結果
        1. 4.3.2.1 テスト結果 – GPIO123 でのクロック入力の反転なし
        2. 4.3.2.2 テスト結果 – GPIO123 でのクロック入力のクロック反転
    4. 4.4 計算ツールによるデジタル インターフェイス タイミングの検証
      1. 4.4.1 補償方法のないデジタル インターフェイス
      2. 4.4.2 一般的に使用される方法 - クロック周波数の低減
      3. 4.4.3 ソフトウェアで設定可能な位相遅延によるクロック エッジ補償
  8. 5まとめ
  9. 6参考資料
  10. 7Revision History

4.1 試験装置とソフトウェア

この測定の主な試験装置を 表 4-1 に示します。

表 4-1 試験装置一覧
説明 部品番号
AMC1306 強化絶縁型変調器の評価基板 AMC1306EVM
C2000™ Delfino™ MCU 向け F28379D LaunchPad™ 開発キット LAUNCHXL-F28379D
Arm® ベース MCU 向け、AM243x 汎用 LaunchPad™ 開発キット LP-AM243
高速オシロスコープ Tektronix MSO 4104
シングルエンド プローブ Tektronix P6139A

ソフトウェアの開発とデバッグは、Code Composer StudioTM (CCS) バージョン 12.4.0 で実行されます。CCS は統合開発環境 (IDE) で、テキサス・インスツルメンツのマイコン (MCU) と組込みプロセッサ ポートフォリオをサポートしています。C2000 マイコン用の C2000WARE - C2000Ware をベースとする TMS320F28379D では、テキサス・インスツルメンツの社内テスト ソフトウェアを使用しました。Sitara AM243x Launchpad では、Sitara™ マイコン MCU-Plus-SDK-AM243X バージョン 09.00.00.35 用の AM243x ソフトウェア開発キット (SDK) をベースとするテキサス・インスツルメンツ社内テスト ソフトウェアを使用しました。C2000 と Sitara の具体的な実装とソフトウェア サポートについては、テキサス・インスツルメンツ E2E サポート フォーラムをご覧ください。