JAJA772A December   2023  – January 2024 AM2631 , AM2631-Q1 , AM2632 , AM2632-Q1 , AM2634 , AM2634-Q1 , AM263P4 , AM263P4-Q1 , AMC1303M2520 , AMC1305L25 , AMC1306M25 , TMS320F280033 , TMS320F280034 , TMS320F280034-Q1 , TMS320F280036-Q1 , TMS320F280036C-Q1 , TMS320F280037 , TMS320F280037-Q1 , TMS320F280037C , TMS320F280037C-Q1 , TMS320F280038-Q1 , TMS320F280038C-Q1 , TMS320F280039 , TMS320F280039-Q1 , TMS320F280039C , TMS320F280039C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S , TMS320F28384D , TMS320F28384D-Q1 , TMS320F28384S , TMS320F28384S-Q1 , TMS320F28386D , TMS320F28386D-Q1 , TMS320F28386S , TMS320F28386S-Q1 , TMS320F28388D , TMS320F28388S , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1

 

  1.   1
  2.   概要
  3.   商標
  4. 1はじめに
  5. 2デジタル インターフェイスのタイミング仕様に関する設計上の課題
  6. 3クロック エッジ遅延補償を使用した設計アプローチ
    1. 3.1 ソフトウェアで設定可能な位相遅延によるクロック信号補償
    2. 3.2 ハードウェアで構成可能な位相遅延によるクロック信号補償
    3. 3.3 クロック復帰によるクロック信号補償
    4. 3.4 MCU におけるクロック反転によるクロック信号補償
  7. 4テストと検証
    1. 4.1 試験装置とソフトウェア
    2. 4.2 ソフトウェアで設定可能な位相遅延によるクロック信号補償のテスト
      1. 4.2.1 テスト構成
      2. 4.2.2 テスト測定結果
    3. 4.3 MCU におけるクロック反転によるクロック信号補償のテスト
      1. 4.3.1 テスト構成
      2. 4.3.2 テスト測定結果
        1. 4.3.2.1 テスト結果 – GPIO123 でのクロック入力の反転なし
        2. 4.3.2.2 テスト結果 – GPIO123 でのクロック入力のクロック反転
    4. 4.4 計算ツールによるデジタル インターフェイス タイミングの検証
      1. 4.4.1 補償方法のないデジタル インターフェイス
      2. 4.4.2 一般的に使用される方法 - クロック周波数の低減
      3. 4.4.3 ソフトウェアで設定可能な位相遅延によるクロック エッジ補償
  8. 5まとめ
  9. 6参考資料
  10. 7Revision History

テスト構成

C2000 TMS320F28379D Launchpad を使用した MCU でのクロック反転によるクロック信号補償のテスト構成を 図 4-5 に示します。この測定では、MCU によって 2 つのテスト信号が生成されます。一方の信号は MCU SDFM のクロック入力 SD1_C1 (GPIO123) に接続され、もう一方の信号は SDFM のデータ入力 SD1_D1 (GPIO122) に接続されます。

 デジタル インターフェイスのタイミング検証のテスト構成図 4-5 デジタル インターフェイスのタイミング検証のテスト構成