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CY29FCT52T

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3 ステート出力、オクタル、レジスタ内蔵トランシーバ

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製品詳細

Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type TTL Features Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Technology family FCT Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type TTL Features Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Technology family FCT Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
SOIC (DW) 24 159.65 mm² 15.5 x 10.3 SSOP (DBQ) 24 51.9 mm² 8.65 x 6
  • Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT, F Logic, and AM2952
  • Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
  • Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Matched Rise and Fall Times
  • Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
  • 64-mA Output Sink Current
    32-mA Output Source Current
  • Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT, F Logic, and AM2952
  • Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
  • Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Matched Rise and Fall Times
  • Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
  • 64-mA Output Sink Current
    32-mA Output Source Current

The CY29FCT52T has two 8-bit back-to-back registers that store data flowing in both directions between two bidirectional buses. Separate clock, clock enable, and 3-state output-enable signals are provided for each register. Both A outputs and B outputs are specified to sink 64 mA.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

The CY29FCT52T has two 8-bit back-to-back registers that store data flowing in both directions between two bidirectional buses. Separate clock, clock enable, and 3-state output-enable signals are provided for each register. Both A outputs and B outputs are specified to sink 64 mA.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート 8-Bit Registered Transceiver データシート (Rev. A) 2000年 11月 21日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
ユーザー・ガイド CYFCT Parameter Measurement Information 2001年 4月 2日
セレクション・ガイド Advanced Bus Interface Logic Selection Guide 2001年 1月 9日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (DW) 24 Ultra Librarian
SSOP (DBQ) 24 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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