CY74FCT2543T
- Function and Pinout Compatible With FCT and F Logic
- 25-Output Series Resistors to Reduce Transmission-Line Reflection Noise
- Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
- Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
- Matched Rise and Fall Times
- Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
- 12-mA Output Sink Current
15-mA Output Source Current - Separation Controls for Data Flow in Each Direction
- Back-to-Back Latches for Storage
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
- 3-State Outputs
The CY74FCT2543T octal latched transceiver contains two sets of eight D-type latches. Separate latch enable (LEAB\, LEBA\) and output enable (OEAB\, OEBA\) inputs permit each latch set to have independent control of inputting and outputting in either direction of data flow. For example, for data flow from A to B, the A-to-B enable (CEAB\) input must be low to enter data from A or to take data from B, as indicated in the function table. With CEAB\ low, a low signal on the A-to-B latch enable (LEAB\) input makes the A-to-B latches transparent; a subsequent low-to-high transition of LEAB\ puts the A latches in the storage mode and their outputs no longer change with the A inputs. With CEAB\ and OEAB\ both low, the 3-state B output buffers are active and reflect data present at the output of the A latches. Control of data from B to A is similar, but uses CEAB\, LEAB\, and OEAB\ inputs. On-chip termination resistors at the outputs reduce system noise caused by reflections. The CY74FCT2543T can replace the CY74FCT543T to reduce noise in an existing design.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | 8-Bit Latched Transceiver With 3-State Outputs データシート (Rev. C) | 2001年 11月 2日 | |||
セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
アプリケーション・ノート | Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) | 2004年 6月 22日 | ||||
ユーザー・ガイド | CYFCT Parameter Measurement Information | 2001年 4月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | Advanced Bus Interface Logic Selection Guide | 2001年 1月 9日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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SOIC (DW) | 24 | Ultra Librarian |
SSOP (DBQ) | 24 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点