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SN54ABT162245

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16 ビット　バス・トランシーバ、3 ステート出力

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製品詳細

Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 16 IOL (max) (mA) 48 IOH (max) (mA) -24 Input type TTL Output type TTL Features Damping resistors, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family ABT Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 16 IOL (max) (mA) 48 IOH (max) (mA) -24 Input type TTL Output type TTL Features Damping resistors, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family ABT Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CFP (WD) 48 153.4008 mm² 15.88 x 9.66
  • Members of the Texas Instruments Widebus™ Family
  • A-Port Outputs Have Equivalent 25- Series Resistors, So No External Resistors Are Required
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) <1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • Distributed VCC and GND Pins Minimize High-Speed Switching Noise
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Flow-Through Architecture Optimizes PCB Layout
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    - 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    - 200-V Machine Model (A115-A)

Widebus is a trademark of Texas Instruments.
  • Members of the Texas Instruments Widebus™ Family
  • A-Port Outputs Have Equivalent 25- Series Resistors, So No External Resistors Are Required
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) <1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • Distributed VCC and GND Pins Minimize High-Speed Switching Noise
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Flow-Through Architecture Optimizes PCB Layout
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    - 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    - 200-V Machine Model (A115-A)

Widebus is a trademark of Texas Instruments.

The ’ABT162245 devices are 16-bit noninverting 3-state transceivers designed for synchronous two-way communication between data buses. The control-function implementation minimizes external timing requirements.

These devices can be used as two 8-bit transceivers or one 16-bit transceiver. They allow data transmission from the A bus to the B bus or from the B bus to the A bus, depending on the logic level at the direction-control (DIR) input. The output-enable (OE)\ input can be used to disable the device so that the buses effectively are isolated.

The A-port outputs, which are designed to source or sink up to 12 mA, include equivalent 25- series resistors to reduce overshoot and undershoot.

These devices are fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the devices when they are powered down.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

The ’ABT162245 devices are 16-bit noninverting 3-state transceivers designed for synchronous two-way communication between data buses. The control-function implementation minimizes external timing requirements.

These devices can be used as two 8-bit transceivers or one 16-bit transceiver. They allow data transmission from the A bus to the B bus or from the B bus to the A bus, depending on the logic level at the direction-control (DIR) input. The output-enable (OE)\ input can be used to disable the device so that the buses effectively are isolated.

The A-port outputs, which are designed to source or sink up to 12 mA, include equivalent 25- series resistors to reduce overshoot and undershoot.

These devices are fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the devices when they are powered down.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN54ABT162245, SN74ABT162245 データシート (Rev. F) 2004年 6月 3日
* SMD SN54ABT162245 SMD 5962-96774 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
アプリケーション・ノート Quad Flatpack No-Lead Logic Packages (Rev. D) 2004年 2月 16日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Power-Up 3-State (PU3S) Circuits in TI Standard Logic Devices 2002年 5月 10日
セレクション・ガイド Advanced Bus Interface Logic Selection Guide 2001年 1月 9日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート Advanced BiCMOS Technology (ABT) Logic Characterization Information (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Advanced BiCMOS Technology (ABT) Logic Enables Optimal System Design (Rev. A) 1997年 3月 1日
アプリケーション・ノート Family of Curves Demonstrating Output Skews for Advanced BiCMOS Devices (Rev. A) 1996年 12月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CFP (WD) 48 Ultra Librarian
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購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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