SN54ABT652A

アクティブ

3 ステート出力、オクタル・バス・トランシーバ / レジスタ

製品詳細

Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 48 IOH (max) (mA) -24 Input type TTL Output type TTL Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family ABT Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 48 IOH (max) (mA) -24 Input type TTL Output type TTL Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family ABT Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
LCCC (FK) 28 130.6449 mm² 11.43 x 11.43
  • State-of-the-Art EPIC-II BTM BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) < 1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • High-Drive Outputs (-32-mA IOH, 64-mA IOL)
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (DW), Shrink Small-Outline (DB), and Thin Shrink Small-Outline (PW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), Ceramic Flat (W) Package, and Plastic (NT) and Ceramic (JT) DIPs

EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments Incorporated.

  • State-of-the-Art EPIC-II BTM BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) < 1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • High-Drive Outputs (-32-mA IOH, 64-mA IOL)
  • Package Options Include Plastic Small-Outline (DW), Shrink Small-Outline (DB), and Thin Shrink Small-Outline (PW) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), Ceramic Flat (W) Package, and Plastic (NT) and Ceramic (JT) DIPs

EPIC-IIB is a trademark of Texas Instruments Incorporated.

These devices consist of bus-transceiver circuits, D-type flip-flops, and control circuitry arranged for multiplexed transmission of data directly from the data bus or from the internal storage registers.

Output-enable (OEAB and OEBA\) inputs are provided to control the transceiver functions. Select-control (SAB and SBA) inputs are provided to select either real-time or stored data for transfer. The circuitry used for select control eliminates the typical decoding glitch that occurs in a multiplexer during the transition between stored and real-time data. A low input selects real-time data, and a high input selects stored data. Figure 1 illustrates the four fundamental bus-management functions that can be performed with the 'ABT652A.

Data on the A- or B-data bus, or both, can be stored in the internal D-type flip-flops by low-to-high transitions at the appropriate clock (CLKAB or CLKBA) inputs, regardless of the select- or enable-control inputs. When SAB and SBA are in the real-time transfer mode, it is possible to store data without using the internal D-type flip-flops by simultaneously enabling OEAB and OEBA\. In this configuration, each output reinforces its input. When all other data sources to the two sets of bus lines are at high impedance, each set of bus lines remains at its last state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OEBA\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver (B to A). OEAB should be tied to GND through a pulldown resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sourcing capability of the driver (A to B).

The SN54ABT652A is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ABT652A is characterized for operation from -40°C to 85°C.

These devices consist of bus-transceiver circuits, D-type flip-flops, and control circuitry arranged for multiplexed transmission of data directly from the data bus or from the internal storage registers.

Output-enable (OEAB and OEBA\) inputs are provided to control the transceiver functions. Select-control (SAB and SBA) inputs are provided to select either real-time or stored data for transfer. The circuitry used for select control eliminates the typical decoding glitch that occurs in a multiplexer during the transition between stored and real-time data. A low input selects real-time data, and a high input selects stored data. Figure 1 illustrates the four fundamental bus-management functions that can be performed with the 'ABT652A.

Data on the A- or B-data bus, or both, can be stored in the internal D-type flip-flops by low-to-high transitions at the appropriate clock (CLKAB or CLKBA) inputs, regardless of the select- or enable-control inputs. When SAB and SBA are in the real-time transfer mode, it is possible to store data without using the internal D-type flip-flops by simultaneously enabling OEAB and OEBA\. In this configuration, each output reinforces its input. When all other data sources to the two sets of bus lines are at high impedance, each set of bus lines remains at its last state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OEBA\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver (B to A). OEAB should be tied to GND through a pulldown resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sourcing capability of the driver (A to B).

The SN54ABT652A is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ABT652A is characterized for operation from -40°C to 85°C.

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Octal Registered Transceivers With 3-State Outputs データシート (Rev. F) 1997年 5月 1日
* SMD SN54ABT652A SMD 5962-93242 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
アプリケーション・ノート Quad Flatpack No-Lead Logic Packages (Rev. D) 2004年 2月 16日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Power-Up 3-State (PU3S) Circuits in TI Standard Logic Devices 2002年 5月 10日
セレクション・ガイド Advanced Bus Interface Logic Selection Guide 2001年 1月 9日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート Advanced BiCMOS Technology (ABT) Logic Characterization Information (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Advanced BiCMOS Technology (ABT) Logic Enables Optimal System Design (Rev. A) 1997年 3月 1日
アプリケーション・ノート Family of Curves Demonstrating Output Skews for Advanced BiCMOS Devices (Rev. A) 1996年 12月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
LCCC (FK) 28 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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