SN54AS652

アクティブ

3 ステート出力、オクタル・バス・トランシーバ / レジスタ

製品詳細

Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -12 Input type TTL Output type TTL Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family AS Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -12 Input type TTL Output type TTL Features Over-voltage tolerant inputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Technology family AS Rating Military Operating temperature range (°C) -55 to 125
CDIP (JT) 24 221.44 mm² 32 x 6.92
  • Bus Transceivers/Registers
  • Independent Registers and Enables for A and B Buses
  • Multiplexed Real-Time and Stored Data
  • Choice of True or Inverting Data Paths
  • Choice of 3-State or Open-Collector Outputs to A Bus
    DEVICE
    A OUTPUT
    B OUTPUT
    LOGIC
    SN74ALS651A, 'AS651
    3-State
    3-State
    Inverting
    SN54ALS652, SN74ALS652A, 'AS652
    3-State
    3-State
    True
    'ALS653
    Open Collector
    3-State
    Inverting
    SN74ALS654
    Open Collector
    3-State
    True
  • Bus Transceivers/Registers
  • Independent Registers and Enables for A and B Buses
  • Multiplexed Real-Time and Stored Data
  • Choice of True or Inverting Data Paths
  • Choice of 3-State or Open-Collector Outputs to A Bus
    DEVICE
    A OUTPUT
    B OUTPUT
    LOGIC
    SN74ALS651A, 'AS651
    3-State
    3-State
    Inverting
    SN54ALS652, SN74ALS652A, 'AS652
    3-State
    3-State
    True
    'ALS653
    Open Collector
    3-State
    Inverting
    SN74ALS654
    Open Collector
    3-State
    True

These devices consist of bus-transceiver circuits, D-type flip-flops, and control circuitry arranged for multiplexed transmission of data directly from the data bus or from the internal storage registers. Output-enable (OEAB and OEBA\) inputs are provided to control the transceiver functions. Select-control (SAB and SBA) inputs are provided to select real-time or stored data transfer. The circuitry used for select control eliminates the typical decoding glitch that occurs in a multiplexer during the transition between stored and real-time data. A low input level selects real-time data, and a high input level selects stored data. Figure 1 illustrates the four fundamental bus-management functions that can be performed with the octal bus transceivers and registers

Data on the A or B data bus, or both, can be stored in the internal D-type flip-flops by low-to-high transitions at the appropriate clock (CLKAB or CLKBA) terminals, regardless of the select- or output-control terminals. When SAB and SBA are in the real-time transfer mode, it is possible to store data without using the internal D-type flip-flops by simultaneously enabling OEAB and OEBA\. In this configuration, each output reinforces its input. When all other data sources to the two sets of bus lines are at high impedance, each set of bus lines remains at its last state.

The -1 versions of the SN74ALS651A and SN74ALS652A are identical to the standard versions except that the recommended maximum IOL for the -1 versions is increased to 48 mA. There are no -1 versions of the SN54ALS652, SN54ALS653, SN74ALS653, and SN74ALS654.

These devices consist of bus-transceiver circuits, D-type flip-flops, and control circuitry arranged for multiplexed transmission of data directly from the data bus or from the internal storage registers. Output-enable (OEAB and OEBA\) inputs are provided to control the transceiver functions. Select-control (SAB and SBA) inputs are provided to select real-time or stored data transfer. The circuitry used for select control eliminates the typical decoding glitch that occurs in a multiplexer during the transition between stored and real-time data. A low input level selects real-time data, and a high input level selects stored data. Figure 1 illustrates the four fundamental bus-management functions that can be performed with the octal bus transceivers and registers

Data on the A or B data bus, or both, can be stored in the internal D-type flip-flops by low-to-high transitions at the appropriate clock (CLKAB or CLKBA) terminals, regardless of the select- or output-control terminals. When SAB and SBA are in the real-time transfer mode, it is possible to store data without using the internal D-type flip-flops by simultaneously enabling OEAB and OEBA\. In this configuration, each output reinforces its input. When all other data sources to the two sets of bus lines are at high impedance, each set of bus lines remains at its last state.

The -1 versions of the SN74ALS651A and SN74ALS652A are identical to the standard versions except that the recommended maximum IOL for the -1 versions is increased to 48 mA. There are no -1 versions of the SN54ALS652, SN54ALS653, SN74ALS653, and SN74ALS654.

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Octal Bus Transceivers And Registers With 3-State Outputs データシート (Rev. G) 2000年 12月 7日
* SMD SN54AS652 SMD 5962-88687 2016年 6月 21日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Advanced Schottky Load Management 1997年 2月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Advanced Schottky (ALS and AS) Logic Families 1995年 8月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (JT) 24 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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