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SN54HC273-DIE

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8回路、D タイプ・フリップ・フロップ、クリア付、SN54HC273-DIE

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製品詳細

Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type CMOS Output type CMOS IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Operating temperature range (°C) 25 to 25 Rating Space
Technology family HC Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 6 Input type CMOS Output type CMOS IOL (max) (mA) 5.2 IOH (max) (mA) -5.2 Operating temperature range (°C) 25 to 25 Rating Space
DIESALE (TD) — See data sheet
  • Wide Operating Voltage Range
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 12 ns
  • Low Input Current
  • Contain Eight Flip-Flops With
    Single-Rail Outputs
  • Direct Clear Input
  • Applications Include:
    • Buffer/Storage Registers
    • Shift Registers
    • Pattern Generators
  • Wide Operating Voltage Range
  • Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
  • Low Power Consumption
  • Typical tpd = 12 ns
  • Low Input Current
  • Contain Eight Flip-Flops With
    Single-Rail Outputs
  • Direct Clear Input
  • Applications Include:
    • Buffer/Storage Registers
    • Shift Registers
    • Pattern Generators

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not related directly to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.

Information at the data (D) inputs meeting the setup time requirements is transferred to the Q outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not related directly to the transition time of the positive-going pulse. When CLK is at either the high or low level, the D input has no effect at the output.
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* データシート Rad-Tolerant Space Grade Die, Quadruple 2-Input Positive-AND Gate, SN54HC273-DIE データシート 2013年 6月 3日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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