SN54SC245-SEP
- VID (Vendor Item Drawing) V62/23616 が利用可能
- 吸収線量 (TID) 耐性 = 30krad(Si)
- すべてのウェハー・ロットについての 30krad(Si) までの吸収線量耐性放射線ロット受け入れテスト (TID RLAT)
- シングル・イベント効果 (SEE) 特性:
- シングル・イベント・ラッチアップ (SEL) 耐性:線エネルギー付与 (LET) = 43MeV-cm2/mg
- シングル・イベント過渡 (SET) 特性:43MeV-cm2/mg
- 広い動作範囲:1.2V~5.5V
- 5.5V 耐圧入力ピン
- 5V で最大 25mA の出力駆動能力
- JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
- 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
- 管理されたベースライン
- 金ボンド・ワイヤ
- NiPdAu リード仕上げ
- 単一のアセンブリ / テスト施設
- 単一の製造施設
- 軍用温度範囲:-55℃~125℃
- 長い製品ライフ・サイクル
- 製品のトレーサビリティ
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
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技術資料
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5 をすべて表示 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | SN54SC245-SEP 3 ステート出力付き、耐放射線、1.2V~5.5V、オクタル・バス・トランシーバ データシート | PDF | HTML | 英語版 | PDF | HTML | 2023年 6月 28日 |
* | 放射線と信頼性レポート | SN54SC245-SEP Single Event Latch-Up Report | PDF | HTML | 2023年 10月 17日 | ||
* | 放射線と信頼性レポート | SN54SC245-SEP Reliability Report | PDF | HTML | 2023年 8月 23日 | ||
* | 放射線と信頼性レポート | SN54SC245-SEP Total Ionizing Dose Report | PDF | HTML | 2023年 8月 16日 | ||
アプリケーション概要 | TI Space Enhanced Plastic Logic Overview and Applications in Low-Earth Orbit Satellite Platforms | PDF | HTML | 2024年 9月 10日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-LOGIC-EVM 評価基板 (EVM) は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
TSSOP (PW) | 20 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点