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SN54SC245-SEP

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宇宙用強化プラスチック封止、3 ステート出力、1.2V ～ 5.5V、オクタル バス トランシーバ

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SN54SC245-SEP

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製品詳細

Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Supply voltage (min) (V) 1.2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs Technology family SLC Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 20 41.6 mm² 6.5 x 6.4
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/23616 が利用可能
  • 吸収線量 (TID) 耐性 = 30krad(Si)
    • すべてのウェハー・ロットについての 30krad(Si) までの吸収線量耐性放射線ロット受け入れテスト (TID RLAT)
  • シングル・イベント効果 (SEE) 特性：
    • シングル・イベント・ラッチアップ (SEL) 耐性：線エネルギー付与 (LET) = 43MeV-cm2/mg
    • シングル・イベント過渡 (SET) 特性：43MeV-cm2/mg
  • 広い動作範囲：1.2V～5.5V
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 5V で最大 25mA の出力駆動能力
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
    • 管理されたベースライン
    • 金ボンド・ワイヤ
    • NiPdAu リード仕上げ
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 単一の製造施設
    • 軍用温度範囲：-55℃～125℃
    • 長い製品ライフ・サイクル
    • 製品のトレーサビリティ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
  • VID (Vendor Item Drawing) V62/23616 が利用可能
  • 吸収線量 (TID) 耐性 = 30krad(Si)
    • すべてのウェハー・ロットについての 30krad(Si) までの吸収線量耐性放射線ロット受け入れテスト (TID RLAT)
  • シングル・イベント効果 (SEE) 特性：
    • シングル・イベント・ラッチアップ (SEL) 耐性：線エネルギー付与 (LET) = 43MeV-cm2/mg
    • シングル・イベント過渡 (SET) 特性：43MeV-cm2/mg
  • 広い動作範囲：1.2V～5.5V
  • 5.5V 耐圧入力ピン
  • 5V で最大 25mA の出力駆動能力
  • JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
  • 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
    • 管理されたベースライン
    • 金ボンド・ワイヤ
    • NiPdAu リード仕上げ
    • 単一のアセンブリ / テスト施設
    • 単一の製造施設
    • 軍用温度範囲：-55℃～125℃
    • 長い製品ライフ・サイクル
    • 製品のトレーサビリティ
    • NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
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比較対象デバイスのアップグレード版機能を搭載した、ドロップイン代替製品
SN74AHC245-EP アクティブ エンハンスド製品、3 ステート出力、オクタル・バス・トランシーバ Voltage range (2V to 5.5V), average propagation delay (12ns), average drive strength (9mA)

技術資料

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アプリケーション概要 TI Space Enhanced Plastic Logic Overview and Applications in Low-Earth Orbit Satellite Platforms PDF | HTML 2024年 9月 10日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (PW) 20 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

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