パッケージ情報
パッケージ | ピン数 TSSOP (PW) | 14 |
動作温度範囲 (℃) -55 to 125 |
パッケージ数量 | キャリア 250 | SMALL T&R |
SN54SC6T07-SEP の特徴
- VID (Vendor Item Drawing) V62/24617 が利用可能
- 吸収線量 (TID) 耐性 = 30krad(Si)
- すべてのウェハー ロットについての 30krad(Si) までの吸収線量耐性放射線ロット受け入れテスト (TID RLAT)
- シングル イベント効果 (SEE) 特性:
- シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性:線エネルギー付与 (LET) = 43MeV-cm2/mg
- シングル イベント過渡 (SET) 特性:43MeV-cm2/mg
- 広い動作範囲:1.2V~5.5V
- 5/3.3/2.5/1.8/1.2V VCC の単電源変換ゲート
- TTL 互換入力:
- 昇圧変換:
- 1.8V – 1.2V からの入力
- 2.5V – 1.8V からの入力
- 3.3V – 1.8V、2.5V からの入力
- 5.0V – 2.5V、3.3V からの入力
- 降圧変換:
-
1.2V – 1.8V、2.5V、3.3V、5.0V からの入力
- 1.8V – 2.5V、3.3V、5.0V からの入力
- 2.5V – 3.3V、5.0V からの入力
- 3.3V – 5.0V からの入力
-
- 昇圧変換:
- TTL 互換入力:
- 5.5V 耐圧入力ピン
- 5V で最大 25mA の出力駆動能力
- JESD 17 準拠で 250mA 超のラッチアップ性能
- 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
- 管理されたベースライン
- 金ボンド ワイヤ
- NiPdAu リード仕上げ
- 単一のアセンブリ / テスト施設
- 単一の製造施設
- 軍用温度範囲:-55℃~125℃
- 長い製品ライフ サイクル
- 製品のトレーサビリティ
- NASA ASTM E595 アウトガス仕様に適合
SN54SC6T07-SEP に関する概要
SN54SC6T07-SEP デバイスは、6 つの独立したオープン ドレイン出力付きバッファを内蔵し、広い電圧範囲で動作してレベル変換を実現します。各バッファはブール関数 Y = A を正論理で実行します。出力レベルは電源電圧 (VCC) を基準としており、1.2V、1.8V、2.5V、3.3V、5V の CMOS レベルをサポートしています。
入力は、低電圧 CMOS 入力の昇圧変換 (例:1.2V 入力から 1.8V 出力、または 1.8V 入力から 3.3V 出力) をサポートするため、低スレッショルド回路を使って設計されています。また、5V 許容の入力ピンにより、降圧変換 (例:3.3V から 2.5V 出力) が可能です。