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SN74ABT244A-EP

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エンハンスド製品、TTL 互換 CMOS 入力、3 ステート出力、8 チャネル、4.5V ～ 5.5V バッファ

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製品詳細

Technology family ABT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 48 Supply current (max) (µA) 30000 IOH (max) (mA) -24 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family ABT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 8 IOL (max) (mA) 48 Supply current (max) (µA) 30000 IOH (max) (mA) -24 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SSOP (DB) 20 56.16 mm² 7.2 x 7.8
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) <1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • High-Drive Outputs (-24-mA IOH, 48-mA IOL)
  • Packaged in Shrink Small-Outline (DB) Package

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

EPIC-IIB is a trademark of Texas Intruments.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
  • Latch-Up Performance Exceeds 500 mA Per JEDEC Standard JESD-17
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce) <1 V at VCC = 5 V, TA = 25°C
  • High-Drive Outputs (-24-mA IOH, 48-mA IOL)
  • Packaged in Shrink Small-Outline (DB) Package

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

EPIC-IIB is a trademark of Texas Intruments.

This octal buffer and line driver is designed specifically to improve both the performance and density of 3-state memory address drivers, clock drivers, and bus-oriented receivers and transmitters. Together with the SN54ABT240, SN74ABT240A, SN54ABT241, and SN74ABT241A, these devices provide the choice of selected combinations of inverting and noninverting outputs, symmetrical active-low output-enable (OE) inputs, and complementary OE and OE inputs.

The SN74ABT244A is organized as two 4-bit buffers/line drivers with separate OE inputs. When OE is low, the device passes noninverted data from the A inputs to the Y outputs. When OE is high, the outputs are in the high-impedance state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

The SN74ABT244 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C.

This octal buffer and line driver is designed specifically to improve both the performance and density of 3-state memory address drivers, clock drivers, and bus-oriented receivers and transmitters. Together with the SN54ABT240, SN74ABT240A, SN54ABT241, and SN74ABT241A, these devices provide the choice of selected combinations of inverting and noninverting outputs, symmetrical active-low output-enable (OE) inputs, and complementary OE and OE inputs.

The SN74ABT244A is organized as two 4-bit buffers/line drivers with separate OE inputs. When OE is low, the device passes noninverted data from the A inputs to the Y outputs. When OE is high, the outputs are in the high-impedance state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

The SN74ABT244 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C.

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74ABT244A-EP データシート (Rev. A) 2006年 7月 14日
* VID SN74ABT244A-EP VID V6206667 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
アプリケーション・ノート Quad Flatpack No-Lead Logic Packages (Rev. D) 2004年 2月 16日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Power-Up 3-State (PU3S) Circuits in TI Standard Logic Devices 2002年 5月 10日
セレクション・ガイド Advanced Bus Interface Logic Selection Guide 2001年 1月 9日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート Advanced BiCMOS Technology (ABT) Logic Characterization Information (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Advanced BiCMOS Technology (ABT) Logic Enables Optimal System Design (Rev. A) 1997年 3月 1日
アプリケーション・ノート Family of Curves Demonstrating Output Skews for Advanced BiCMOS Devices (Rev. A) 1996年 12月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SSOP (DB) 20 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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