SN74ALVCH162601

アクティブ

18 ビット ユニバーサル・バス・トランシーバ、3 ステート出力

製品詳細

Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 3.6 Number of channels 18 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Bus-hold, Damping resistors, Positive input clamp diode, Ultra high speed (tpd <5ns) Technology family ALVC Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 3.6 Number of channels 18 IOL (max) (mA) 12 IOH (max) (mA) -32 Input type TTL-Compatible CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Bus-hold, Damping resistors, Positive input clamp diode, Ultra high speed (tpd <5ns) Technology family ALVC Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
SSOP (DL) 56 190.647 mm² 18.42 x 10.35 TSSOP (DGG) 56 113.4 mm² 14 x 8.1
  • Member of the Texas Instruments Widebus™ Family
  • EPIC™ (Enhanced-Performance Implanted CMOS) Submicron Process
  • UBT™ (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Type Flip-Flops for Operation in Transparent, Latched, Clocked, or Clock-Enabled Modes
  • B-Port Outputs Have Equivalent 26- Series Resistors, So No External Resistors Are Required
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • Bus Hold on Data Inputs Eliminates the Need for External Pullup/Pulldown Resistors
  • Package Options Include Plastic 300-mil Shrink Small-Outline (DL) and Thin Shrink Small-Outline (DGG) Packages

NOTE: For tape-and-reel order entry, the DGGR package is abbreviated to GR.

Widebus, EPIC, UBT are trademarks of Texas Instruments.

  • Member of the Texas Instruments Widebus™ Family
  • EPIC™ (Enhanced-Performance Implanted CMOS) Submicron Process
  • UBT™ (Universal Bus Transceiver) Combines D-Type Latches and D-Type Flip-Flops for Operation in Transparent, Latched, Clocked, or Clock-Enabled Modes
  • B-Port Outputs Have Equivalent 26- Series Resistors, So No External Resistors Are Required
  • ESD Protection Exceeds 2000 V Per MIL-STD-883, Method 3015; Exceeds 200 V Using Machine Model (C = 200 pF, R = 0)
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • Bus Hold on Data Inputs Eliminates the Need for External Pullup/Pulldown Resistors
  • Package Options Include Plastic 300-mil Shrink Small-Outline (DL) and Thin Shrink Small-Outline (DGG) Packages

NOTE: For tape-and-reel order entry, the DGGR package is abbreviated to GR.

Widebus, EPIC, UBT are trademarks of Texas Instruments.

This 18-bit universal bus transceiver is designed for 1.65-V to 3.6-V VCC operation.

The SN74ALVCH162601 combines D-type latches and D-type flip-flops to allow data flow in transparent, latched, clocked, and clock-enabled modes.

Data flow in each direction is controlled by output-enable (OEAB\ and OEBA\), latch-enable (LEAB and LEBA), and clock (CLKAB and CLKBA) inputs. The clock can be controlled by the clock-enable (CLKENAB\ and CLKENBA\) inputs. For A-to-B data flow, the device operates in the transparent mode when LEAB is high. When LEAB is low, the A data is latched if CLKAB is held at a high or low logic level. If LEAB is low, the A data is stored in the latch/flip-flop on the low-to-high transition of CLKAB. When OEAB\ is low, the outputs are active. When OEAB\ is high, the outputs are in the high-impedance state.

Data flow for B to A is similar to that of A to B, but uses OEBA\, LEBA, CLKBA, and CLKENBA\.

The B-port outputs include equivalent 26- series resistors to reduce overshoot and undershoot.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

Active bus-hold circuitry is provided to hold unused or floating data inputs at a valid logic level.

The SN74ALVCH162601 is characterized for operation from –0°C to 85°C.

This 18-bit universal bus transceiver is designed for 1.65-V to 3.6-V VCC operation.

The SN74ALVCH162601 combines D-type latches and D-type flip-flops to allow data flow in transparent, latched, clocked, and clock-enabled modes.

Data flow in each direction is controlled by output-enable (OEAB\ and OEBA\), latch-enable (LEAB and LEBA), and clock (CLKAB and CLKBA) inputs. The clock can be controlled by the clock-enable (CLKENAB\ and CLKENBA\) inputs. For A-to-B data flow, the device operates in the transparent mode when LEAB is high. When LEAB is low, the A data is latched if CLKAB is held at a high or low logic level. If LEAB is low, the A data is stored in the latch/flip-flop on the low-to-high transition of CLKAB. When OEAB\ is low, the outputs are active. When OEAB\ is high, the outputs are in the high-impedance state.

Data flow for B to A is similar to that of A to B, but uses OEBA\, LEBA, CLKBA, and CLKENBA\.

The B-port outputs include equivalent 26- series resistors to reduce overshoot and undershoot.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

Active bus-hold circuitry is provided to hold unused or floating data inputs at a valid logic level.

The SN74ALVCH162601 is characterized for operation from –0°C to 85°C.

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
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アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

シミュレーション・モデル

SN74ALVCH162601 IBIS Model

SCEM277.ZIP (105 KB) - IBIS Model
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SSOP (DL) 56 Ultra Librarian
TSSOP (DGG) 56 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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