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SN74LVC16T245-EP

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エンハンスド製品、16 ビット、デュアル電源バス・トランシーバ

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製品詳細

Technology family LVC Applications GPIO Bits (#) 16 High input voltage (min) (V) 1.08 High input voltage (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 1.65 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 200 IOH (max) (mA) -32 IOL (max) (mA) 32 Supply current (max) (µA) 30 Features Output enable, Overvoltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Input type Standard CMOS Output type 3-State, Balanced CMOS, Push-Pull Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LVC Applications GPIO Bits (#) 16 High input voltage (min) (V) 1.08 High input voltage (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 1.65 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 200 IOH (max) (mA) -32 IOL (max) (mA) 32 Supply current (max) (µA) 30 Features Output enable, Overvoltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) Input type Standard CMOS Output type 3-State, Balanced CMOS, Push-Pull Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (DGG) 48 101.25 mm² 12.5 x 8.1
  • Control Inputs VIH and VIL Levels Are
    Referenced to VCCA Voltage
  • VCC Isolation Feature – If Either VCC
    Input Is at GND, Both Ports Are in the High-Impedance State
  • Overvoltage-Tolerant Inputs and Outputs Allow Mixed-Voltage-Mode Data
    Communications
  • Fully Configurable Dual-Rail Design Allows Each Port to Operate Over the Full
    1.65-V to 5.5-V Power-Supply Range
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Control Inputs VIH and VIL Levels Are
    Referenced to VCCA Voltage
  • VCC Isolation Feature – If Either VCC
    Input Is at GND, Both Ports Are in the High-Impedance State
  • Overvoltage-Tolerant Inputs and Outputs Allow Mixed-Voltage-Mode Data
    Communications
  • Fully Configurable Dual-Rail Design Allows Each Port to Operate Over the Full
    1.65-V to 5.5-V Power-Supply Range
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

This 16-bit noninverting bus transceiver uses two separate configurable power-supply rails. The A port is designed to track VCCA. VCCA accepts any supply voltage from 1.65 V to 5.5 V. The B port is designed to track VCCB. VCCB accepts any supply voltage from 1.65 V to 5.5 V. This allows for universal low-voltage bidirectional translation between any of the 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V voltage nodes.

The SN74LVC16T245 is designed for asynchronous communication between two data buses. The logic levels of the direction-control (DIR) input and the output-enable (OE) input activate either the B-port outputs or the A-port outputs or place both output ports into the high-impedance mode. The device transmits data from the A bus to the B bus when the B-port outputs are activated, and from the B bus to the A bus when the A-port outputs are activated. The input circuitry on both A and B ports always is active and must have a logic HIGH or LOW level applied to prevent excess ICC and ICCZ.

The SN74LVC16T245 is designed so that the control pins (1DIR, 2DIR, 1OE, and 2OE) are supplied by VCCA.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

The VCC isolation feature ensures that if either VCC input is at GND, then both ports are in the high-impedance state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

This 16-bit noninverting bus transceiver uses two separate configurable power-supply rails. The A port is designed to track VCCA. VCCA accepts any supply voltage from 1.65 V to 5.5 V. The B port is designed to track VCCB. VCCB accepts any supply voltage from 1.65 V to 5.5 V. This allows for universal low-voltage bidirectional translation between any of the 1.8-V, 2.5-V, 3.3-V, and 5-V voltage nodes.

The SN74LVC16T245 is designed for asynchronous communication between two data buses. The logic levels of the direction-control (DIR) input and the output-enable (OE) input activate either the B-port outputs or the A-port outputs or place both output ports into the high-impedance mode. The device transmits data from the A bus to the B bus when the B-port outputs are activated, and from the B bus to the A bus when the A-port outputs are activated. The input circuitry on both A and B ports always is active and must have a logic HIGH or LOW level applied to prevent excess ICC and ICCZ.

The SN74LVC16T245 is designed so that the control pins (1DIR, 2DIR, 1OE, and 2OE) are supplied by VCCA.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

The VCC isolation feature ensures that if either VCC input is at GND, then both ports are in the high-impedance state.

To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74LVC16T245-EP 16-BIT DUAL-SUPPLY BUS TRANSCEIVER データシート (Rev. A) 2013年 2月 12日
* VID SN74LVC16T245-EP VID V6212667 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート CLVC16T245MDGGREP Reliability Report 2013年 4月 24日
* 放射線と信頼性レポート CLVC16T245MDGGREP Reliability Report 2013年 4月 24日
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アプリケーション概要 Voltage Translation for Rugged High Reliability Applications PDF | HTML 2021年 7月 20日
セレクション・ガイド Voltage Translation Buying Guide (Rev. A) 2021年 4月 15日
セレクション・ガイド Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 2018年 7月 6日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート How to Select Little Logic (Rev. A) 2016年 7月 26日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
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アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
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ユーザー・ガイド Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
アプリケーション・ノート Use of the CMOS Unbuffered Inverter in Oscillator Circuits 2003年 11月 6日
ユーザー・ガイド LVC and LV Low-Voltage CMOS Logic Data Book (Rev. B) 2002年 12月 18日
アプリケーション・ノート Texas Instruments Little Logic Application Report 2002年 11月 1日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
その他の技術資料 Standard Linear & Logic for PCs, Servers & Motherboards 2002年 6月 13日
アプリケーション・ノート 16-Bit Widebus Logic Families in 56-Ball, 0.65-mm Pitch Very Thin Fine-Pitch BGA (Rev. B) 2002年 5月 22日
アプリケーション・ノート Power-Up 3-State (PU3S) Circuits in TI Standard Logic Devices 2002年 5月 10日
その他の技術資料 STANDARD LINEAR AND LOGIC FOR DVD/VCD PLAYERS 2002年 3月 27日
アプリケーション・ノート Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート LVC Characterization Information 1996年 12月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
設計ガイド Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 1996年 9月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (DGG) 48 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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