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신규

TPS7H1121-SP

활성

방사능 저항, QMLV 및 QMLP, 2.25V~14V 입력, 2A 저손실(LDO) 레귤레이터

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TPS7H1121-SP

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제품 상세 정보

Output options Adjustable Output Iout (max) (A) 2 Vin (max) (V) 14 Vin (min) (V) 2.25 Vout (max) (V) 13.2 Vout (min) (V) 0.6 Fixed output options (V) 0 Rating Space Noise (µVrms) 4 PSRR at 100 KHz (dB) 45 Iq (typ) (mA) 10 Thermal resistance θJA (°C/W) 30.5 Load capacitance (min) (µF) 6.8 Regulated outputs (#) 1 Features Adjustable current limit, Enable, Power good, Soft start Accuracy (%) 1.5 Dropout voltage (Vdo) (typ) (mV) 400 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 75 Radiation, TID (typ) (krad) 100
Output options Adjustable Output Iout (max) (A) 2 Vin (max) (V) 14 Vin (min) (V) 2.25 Vout (max) (V) 13.2 Vout (min) (V) 0.6 Fixed output options (V) 0 Rating Space Noise (µVrms) 4 PSRR at 100 KHz (dB) 45 Iq (typ) (mA) 10 Thermal resistance θJA (°C/W) 30.5 Load capacitance (min) (µF) 6.8 Regulated outputs (#) 1 Features Adjustable current limit, Enable, Power good, Soft start Accuracy (%) 1.5 Dropout voltage (Vdo) (typ) (mV) 400 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Radiation, SEL (MeV·cm2/mg) 75 Radiation, TID (typ) (krad) 100
CFP (HFT) 22 60.221856 mm² 6.211 x 9.696
  • Total Ionizing Dose radiation characterized:

    • Radiation hardness assurance (RHA) availability of 100krad(Si) or 50krad(Si)

  • Single-Event Effects (SEE) Characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) = 75MeV-cm2/mg
    • Single-event functional interrupt (SEFI) characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
    • Single-event transient (SET) characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
  • Wide VIN range: 2.25V to 14V
  • 2A maximum output current
  • ±1.5% accuracy VIN > 3V over load, and temperature
  • ±1.8% accuracy VIN < 3V over load, and temperature
  • Soft start (SS) control through an external capacitor
  • Open-drain power good (PG) output for power sequencing
  • Programmable current limit through an external resistor (CL)
  • Optional external control loop compensation utilizing the STAB pin
  • Excellent load and line transient response
  • Plastic packages out gas tested per ASTM E595
  • Military (–55°C to 125°C) temperature range
  • Total Ionizing Dose radiation characterized:

    • Radiation hardness assurance (RHA) availability of 100krad(Si) or 50krad(Si)

  • Single-Event Effects (SEE) Characterized
    • Single-event latch-up (SEL), single-event burnout (SEB), and single-event gate rupture (SEGR) immune to linear energy transfer (LET) = 75MeV-cm2/mg
    • Single-event functional interrupt (SEFI) characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
    • Single-event transient (SET) characterized to LET = 75MeV-cm2/mg
  • Wide VIN range: 2.25V to 14V
  • 2A maximum output current
  • ±1.5% accuracy VIN > 3V over load, and temperature
  • ±1.8% accuracy VIN < 3V over load, and temperature
  • Soft start (SS) control through an external capacitor
  • Open-drain power good (PG) output for power sequencing
  • Programmable current limit through an external resistor (CL)
  • Optional external control loop compensation utilizing the STAB pin
  • Excellent load and line transient response
  • Plastic packages out gas tested per ASTM E595
  • Military (–55°C to 125°C) temperature range

The TPS7H1121 is a radiation-hardened, low dropout linear regulator (LDO) which operates over a wide input voltage range and is optimized for powering devices in a space environment. It is capable of sourcing up to 2A over a 2.25V to 14V input.

The device offers excellent stability and features a programmable current limit with a wide adjustment range. To support the complex power requirements of FPGAs, DSPs, and microcontrollers, the TPS7H1121 provides enable on and off functionality, programmable soft start, and a power good open-drain output.

The TPS7H1121 is a radiation-hardened, low dropout linear regulator (LDO) which operates over a wide input voltage range and is optimized for powering devices in a space environment. It is capable of sourcing up to 2A over a 2.25V to 14V input.

The device offers excellent stability and features a programmable current limit with a wide adjustment range. To support the complex power requirements of FPGAs, DSPs, and microcontrollers, the TPS7H1121 provides enable on and off functionality, programmable soft start, and a power good open-drain output.
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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet TPS7H1121-SP 2.25V to 14V Input, 2A, Radiation Hardened Low Dropout (LDO) Linear Regulator datasheet (Rev. A) PDF | HTML 2024/09/24
* Radiation & reliability report TPS7H1121-SP Neutron Displacement Damage (NDD) Characterization Report PDF | HTML 2024/09/19
* Radiation & reliability report TPS7H1121-SP Total Ionizing Dose (TID) Radiation Report PDF | HTML 2024/09/19
* Radiation & reliability report TPS7H1121-SP Single-Event Effects (SEE) PDF | HTML 2024/09/18
Application brief DLA Approved Optimizations for QML Products (Rev. B) PDF | HTML 2024/05/17
EVM User's guide TPS7H1121EVM-CVAL Evaluation Module User's Guide (Rev. A) PDF | HTML 2024/05/17
Certificate TPS7H1121EVM-CVAL EU Declaration of Conformity (DoC) 2024/04/05
Selection guide TI Space Products (Rev. J) 2024/02/12
More literature TI Engineering Evaluation Units vs. MIL-PRF-38535 QML Class V Processing (Rev. A) 2023/08/31
Application note QML flow, its importance, and obtaining lot information (Rev. C) 2023/08/30
Application note Heavy Ion Orbital Environment Single-Event Effects Estimations (Rev. A) PDF | HTML 2022/11/17
Application note DLA Standard Microcircuit Drawings (SMD) and JAN Part Numbers Primer 2020/08/21
Application note Hermetic Package Reflow Profiles, Termination Finishes, and Lead Trim and Form PDF | HTML 2020/05/18
E-book Radiation Handbook for Electronics (Rev. A) 2019/05/21

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

TPS7H1121EVM-CVAL — TPS7H1121-SP 평가 모듈

TPS7H1121EVM-CVAL은 단일 TPS7H1121-SP LDO 레귤레이터의 작동을 보여줍니다. 이 보드는 사용자 지정 구성을 테스트할 수 있는 추가 부품으로 채울 수 있는 풋프린트와 손쉬운 성능 검증을 위한 테스트 포인트 및 SMA 커넥터를 제공합니다.
사용 설명서: PDF | HTML
TI.com에서 구매 불가
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
CFP (HFT) 22 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

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