SN74HCS126-Q1
- AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
- Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
- Device HBM ESD Classification Level 2
- Device CDM ESD Classifcation Level C6
- Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
- Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
- Low power consumption
- Typical ICC of 100 nA
- Typical input leakage current of ±100 nA
- ±7.8-mA output drive at 6 V
This device contains four independent buffer with 3-state outputs and Schmitt-trigger inputs. Each gate performs the Boolean function Y = A in positive logic. The outputs can be put into a Hi-Z state by applying a Low on the OE pin
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技術文件
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檢視所有 1 | 類型 | 標題 | 日期 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | SN74HCS126-Q1 Quadruple Bus Buffer Gates with 3-State Outputs datasheet (Rev. A) | 2021年 3月 8日 |
設計與開發
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開發板
14-24-LOGIC-EVM — 適用於 14 針腳至 24 針腳 D、DB、DGV、DW、DYY、NS 和 PW 封裝的邏輯產品通用評估模組
14-24-LOGIC-EVM 評估模組 (EVM) 設計用於支援任何 14 針腳至 24 針腳 D、DW、DB、NS、PW、DYY 或 DGV 封裝的任何邏輯裝置。
| 封裝 | 針腳 | CAD 符號、佔位空間與 3D 模型 |
|---|---|---|
| SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
| TSSOP (PW) | 14 | Ultra Librarian |
訂購與品質
內含資訊：
- RoHS
- REACH
- 產品標記
- 鉛塗層/球物料
- MSL 等級/回焊峰值
- MTBF/FIT 估算值
- 材料內容
- 認證摘要
- 進行中持續性的可靠性監測
內含資訊：
- 晶圓廠位置
- 組裝地點